[发明专利]相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置和方法有效
申请号: | 201210199435.4 | 申请日: | 2012-06-15 |
公开(公告)号: | CN102706539A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 曾爱军;刘龙海;朱玲琳;黄惠杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 相位 延迟 分布 方位 角分布 实时 测量 装置 方法 | ||
1.一种相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置,其特征在于该装置由准直光源(1)、圆起偏器(2)、衍射分束元件(4)、四分之一波片(5)、检偏器阵列(6)、CCD图像传感器(7)和具有图像采集卡的计算机(8)组成,上述元部件的位置关系如下:
所述的检偏器阵列(6)由四个透振方向依次相差45°的第一检偏器(61)、第二检偏器(62)、第三检偏器(63)、第四检偏器(64)组成,与所述的四分之一波片(5)处于同一个子光路中的检偏器为第一检偏器(61),所述的第一检偏器(61)的透振方向与所述的四分之一波片(5)的快轴方向分别成45°或135°,沿所述的准直光源(1)的光束前进方向上,依次是所述的圆起偏器(2)和衍射分束元件(4),该衍射分束元件(4)将入射光束分成四个子光束,其中一个子光束经四分之一波片(5)后被第一检偏器(61)进行检偏,另外三个子光束直接被第二检偏器(62)、第三检偏器(63)和第四检偏器(64)检偏,所述的图像传感器(7)的输出端与所述的计算机(8)的输入端连接,在所述的圆起偏器(2)和偏振分束元件(4)之间设置待测样品(3)的插口。
2.根据权利要求1所述的相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置,其特征在于准直光源(1)为He-Ne激光器。
3.根据权利要求1所述的相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置,其特征在于所述的圆起偏器(2)为利用方解石晶体和石英晶体制作成的消光比优于10-3的圆起偏器。
4.根据权利要求1所述的相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置,其特征在于所述的衍射分束元件(4)为正交振幅光栅、正交相位光栅或达曼光栅,利用衍射效应将入射光进行分束并获得四个光强度相等子光束。
5.根据权利要求1所述的相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置,其特征在于所述的标准四分之一波片(5)为零级石英波片。
6.根据权利要求1所述的相位延迟量分布和快轴方位角分布实时测量装置,其特征在于所述的第一检偏器(61)、第二检偏器(62)、第三检偏器(63)和 第四检偏器(64)均为消光比优于10-3的偏振片。
7.利用权利要求1所述的测量装置进行相位延迟量分布和快轴方位角分布的测量方法,其特征在于该方法包括下列步骤:
①将待测样品(3)插入所述的圆起偏器(2)和衍射分束元件(4)之间的插口并调整光路,使光束垂直通过待测样品(3);
②启动所述的准直光源(1)、CCD图像传感器(7)和计算机(8),所述的CCD图像传感器(7)接收四个子光束产生的图像并输入所述的计算机(8),该计算机(8)将图像分割为四个子图像,并将四个子图像以同样的方法像素化并建立相同的坐标系,将待测样品(3)的矩阵化并建立与子图像相同的坐标系,待测样品(3)上一个矩阵单元(x,y)在四个子图像中对应的光强分别为I1(x,y)、I2(x,y)、I3(x,y)和I4(x,y),对所述的图像进行数据处理,输出待测样品(3)的相位延迟量分布和快轴方位角分布。
8.根据权利要求7所述的测量方法,其特征在于所述的计算机(8)对所述的图像进行数据处理的具体方法如下;
当所述的测量装置的第一检偏器(61)的透振方向与所述的四分之一波片(5)的快轴方向分别成45°时,所述的计算机(8)进行步骤③④的处理:
③所述的计算机(8)对所述的待测样品(3)上的矩阵单元(x,y)对应的光强I1(x,y)、I2(x,y)、I3(x,y)和I4(x,y)进行下列运算并定义:
其中:δ(x,y)为矩阵单元(x,y)的相位延迟量;θ(x,y)为矩阵单元(x,y)的快轴方位角,
经过下列计算得到待测样品(3)上该矩阵单元(x,y)的相位延迟量δ(x,y)在0~180°范围内的值:
当时,则
当 时,则δ(x,y)=arccos(V3(x,y)),
当时,则
经过下列计算得到待测样品(3)上该矩阵单元(x,y)的快轴方位角θ(x,y)在-90°~90°范围内的值:
当V2(x,y)<0&V1(x,y)≤0时,则
当V2(x,y)>0时,则
当V2(x,y)<0&V1(x,y)>0时,则
④依次改变矩阵单元(x,y)的坐标值x、y和相应的光强I1(x,y)、I2(x,y)、I3(x,y)和I4(x,y),重复步骤③的计算,直至所有的矩阵单元(x,y)计算后,即获得了待测样品(3)的相位延迟量分布矩阵和快轴方位角分布矩阵;
当所述的测量装置的第一检偏器(61)的透振方向与所述的四分之一波片(5)的快轴方向分别成135°时,所述的计算机(8)进行步骤⑤⑥的处理:
⑤所述的计算机(8)对所述的待测样品(3)上的矩阵单元(x,y)对应的光强I1(x,y)、I2(x,y)、I3(x,y)和I4(x,y)进行下列运算并定义:
当时,
当 时,δ(x,y)=arccos(V3(x,y)),
当时,
经过下列计算得到待测样品(3)上该矩阵单元(x,y)的相位延迟量δ(x,y) 在0~180°范围内的值;
当V2(x,y)<0&V1(x,y)≤0时,
当V2(x,y)>0时,
当V2(x,y)<0&V1(x,y)>0时,
经过下列计算得到待测样品(3)上该矩阵单元(x,y)的快轴方位角θ(x,y)在-90°~90°范围内的值;
⑥依次改变矩阵单元(x,y)的坐标值x、y和相应的光强I1(x,y)、I2(x,y)、I3(x,y)和I4(x,y),重复步骤⑤的计算,直至所有的矩阵单元(x,y)计算后,即获得待测样品(3)的相位延迟量分布矩阵和快轴方位角分布矩阵。
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