[发明专利]一种基于界面氧空位实现多值存储的阻变存储器件方法无效
申请号: | 201210199475.9 | 申请日: | 2012-06-13 |
公开(公告)号: | CN102723435A | 公开(公告)日: | 2012-10-10 |
发明(设计)人: | 李培刚;申婧翔;王国锋;张岩;王顺利;陈本永;唐为华 | 申请(专利权)人: | 浙江理工大学 |
主分类号: | H01L45/00 | 分类号: | H01L45/00 |
代理公司: | 浙江英普律师事务所 33238 | 代理人: | 陈小良 |
地址: | 310018*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 界面 空位 实现 存储 器件 方法 | ||
1.一种基于界面氧空位实现多值存储的阻变存储器件方法,其特征包括如下步骤:
(1)先取一片10mm×5mm×0.5mm大小的含Nb单晶SrTiO3为衬底,并超声清洗干净,自然晾干;其中的单晶SrTiO3衬底中含有质量含量为0.5%的Nb;
(2)将上述清洗干净的含Nb单晶SrTiO3衬底用掩膜板遮挡,然后使用射频磁控溅射方法在含Nb单晶SrTiO3衬底上溅射一定厚度为150nm-200nm、面积为1mm2的金属金薄膜做为电极,制成样品;
(3)将步骤(2)的样品剥离掩膜板,在含Nb单晶SrTiO3衬底上涂覆面积为1mm2的金属银做为另一电极使用;
(4)将步骤(3)的样品用金属铜线将金属金电极与金属银电极连接起来。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述的步骤(2)中所使用的射频磁控溅射方法时的真空度为7×10-4pa,溅射气压为0.8Pa,溅射时间为20min,溅射功率为60W,靶基距为5cm。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于所述的步骤(2)中射频磁控溅射方法所得到的金属金薄膜的厚度为150nm,面积为1mm2。
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