[发明专利]一种利用直流可控中子源计算地层密度的测井方法

权利要求书

1.一种利用直流可控中子源计算地层密度的测井方法，其特征在于，利用直流可控中子源和多探测器系统，记录不同位置处的中子计数和伽马能谱，实现地层密度的获取。

2.根据权利要求1所述的利用直流可控中子源计算地层密度的测井方法，其特征在于，所述直流可控中子源采用D-D中子源，直流工作方式。

3.根据权利要求1所述的利用直流可控中子源计算地层密度的测井方法，其特征在于，两个热中子探测器和三个伽马探测器；所述的热中子探测器采用He-3正比计数器；所述的伽马探测器采用的是NaI晶体探测器；所述的多探测器系统的排列顺序是，沿离开中子源位置的方向，依次是近源距伽马探测器、近源距中子探测器、远源距中子探测器、远源距伽马探测器以及超远源距本底伽马探测器；所述的探测器长度分别为，近源距伽马探测器NaI晶体长度50～100mm，近源距中子探测器长度为100～200mm，远源距中子探测器长度为100～200mm，远源距伽马探测器NaI晶体长度为50～100mm，超远源距伽马探测器NaI晶体长度50～100mm；所述各探测器源距分别为：近伽马探测器源距(晶体中心位置到中子源靶的距离)为285～385mm，近中子探测器源距(中子探测器中心位置到中子源靶的距离)为360～505mm，远中子探测器源距为570～745mm，远伽马探测器源距为675～865mm，超远伽马探测器源距为1000～1200mm。

4.根据权利要求1所述的利用直流可控中子源计算地层密度的测井方法，其特征在于，所述计算地层密度方法，其特征在于，采用如下的步骤：

①在未知密度地层中，近、远源距中子探测器采集中子计数分别为N_S、N_L；近、远、超远源距伽马探测器采集伽马能谱；

②利用近、远源距伽马探测器能谱计数扣除超远源距伽马探测器采集的本底伽马能谱，得到不含本底的近、远源距伽马能谱，其总计数分别为G_S、G_L；

③计算近、远源距处能量在0.1MeV～1MeV之间的伽马计数g_S、g_L，利用中子计数N_S、N_L和伽马计数g_S、g_L，计算R(或lnR)值，R表达式如下：

R=gSgL-NLNSgS]]>

当近、远伽马探测器总计数率偏低时，可以用总计数G_S、G_L代替g_S、g_L计算R(或lnR)值，此时R表达式为：

R=GSGL-NLNSGS]]>

④根据仪器在刻度井中得到的R(或lnR)与地层密度ρ之间的响应关系，利用上面计算得到的R(或lnR)值计算得到未知地层密度。