[发明专利]一种测量液晶显示装置的背板平面度的方法及其装置

权利要求书

1.一种测量液晶显示装置的背板平面度的方法，其特征在于，所述方法包括：

用垫块将待测背板支撑于测试平台上；

求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面；

根据高度规测量的高度计算背板的测量点相对于参考平面的高度，得出背板的平面度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述方法还包括：

设置参考0点；

用高度规测量背板上布置的测量点相对于参考0点的高度，背板的垫块支撑位置中包含测量点；

所述求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面具体包括：

计算背板的垫块支撑位置中包含的测量点相对于参考0点的高度的平均值；

以所述平均值为参考平面相对于参考0点的高度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述根据高度规测量的高度计算背板的测量点相对于参考平面的高度，得出背板的平面度具体包括：

计算测量点相对于参考0点的高度与参考平面相对于参考0点的高度的差，

以所得差中最大值为平面度的正向偏离值，以所得差中最小值为平面度的负向偏离值。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

所述垫块位于背板的四角的位置。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，

所述设置参考0点具体包括：

设置测试平台高度为参考0点。

6.一种测量液晶显示装置的背板平面度的装置，其特征在于，所述装置包括：测试平台、垫块、高度规、和数据处理器，

垫块位于测试平台上；

待测的背板位于垫块上；

高度规位于背板上；

数据处理器包括：

参考平面构建模块，用于求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面；

平面度计算模块，用于根据高度规测量的高度计算背板的测量点相对于参考平面的高度，得出背板的平面度。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述装置还包括：

设置模块，用于设置参考0点；

所示高度规具体用于：测量背板上布置的测量点相对于参考0点的高度，背板的垫块支撑位置中包含测量点；

所述参考平面构建模块具体用于：计算背板的垫块支撑位置中包含的测量点相对于参考0点的高度的平均值，以所述平均值为参考平面相对于参考0点的高度。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述平面度计算模块具体用于：计算测量点相对于参考0点的高度与参考平面相对于参考0点的高度的差，以所得差中最大值为平面度的正向偏离值，以所得差中最小值为平面度的负向偏离值。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，

所述垫块位于背板的四角的位置。

10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，

所述设置模块具体用于设置测试平台高度为参考0点。