[发明专利]一种双面钝化的MWT太阳电池及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201210205462.8 申请日: 2012-06-20
公开(公告)号: CN102738252A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 盛健 申请(专利权)人: 常州天合光能有限公司
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216;H01L31/068;H01L31/18
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 王凌霄
地址: 213031 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 双面 钝化 mwt 太阳电池 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种双面钝化的MWT太阳电池,包括硅基体(1)、发射极电极(2)以及基极电极(3),硅基体(1)正表面设有扩散掺杂层(4),位于扩散掺杂层(4)上方设有SiNx减反层(5),其特征是:所述的SiNx减反层(5)与扩散掺杂层(4)之间设有正表面介质膜层(6),硅基体(1)背表面的铝层表面上设有背表面介质膜层(7),背表面介质膜层(7)的外表面设有背表面掩膜层(8),基极电极(3)位于背表面掩膜层(8)的外表面上。

2.根据权利要求1所述的双面钝化的MWT太阳电池,其特征是:所述的正表面介质膜层(6)的厚度为5~30nm。

3.根据权利要求1所述的双面钝化的MWT太阳电池,其特征是:所述的背表面介质膜层(7)的厚度为5~30nm。

4.根据权利要求1所述的双面钝化的MWT太阳电池,其特征是:所述的背表面掩膜层(8)的厚度为50~200nm。

5.一种权利要求1所述的双面钝化的MWT太阳电池的制造方法,其特征是:包括以下步骤:

a、硅基体(1)抛光:采用机械、碱或者酸抛光工艺,对硅基体(1)表面抛光;

b、单面沉积阻挡层:采用化学气相沉积或原子层沉积的方式沉积介质膜;

c、从硅基体(1)正表面向硅基体(1)背表面采用激光打通孔;

d、沿着以通孔为中心,去除掩膜层,用于形成硅基体(1)正面、背面以及通孔内部的扩散掺杂层(4);

e、采用制绒工艺对硅基体(1)制绒,并去除激光损伤层;

f、通过掺杂工艺对硅基体(1)进行扩散掺杂,在硅基体(1)正面、通孔及背面通孔周边区域形成PN结;

g、磷硅玻璃去除,选用稀氢氟酸溶液去除硅基体(1)正面及通孔的磷硅玻璃以及步骤b中形成的掩阻挡层;

h、在硅基体(1)背表面进行沉积处理,形成厚度为5~30nm的背表面介质膜层(7),在背表面介质膜层(7)上沉积处理,形成厚度为50~200nm的背表面掩膜层(8);

i、在硅基体(1)正表面进行沉积处理,形成厚度为5~30nm的正表面介质膜层(6),正表面介质膜层(6)上沉积,形成SiNx减反层(5);

j、硅基体(1)正、背表面采用丝网印刷和烧结方式,在硅基体(1)正、背表面及通孔形成发射极电极(2),在硅基体(1)背表面形成基极电极(3)。

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