[发明专利]一种双面钝化的MWT太阳电池及其制造方法无效
申请号: | 201210205462.8 | 申请日: | 2012-06-20 |
公开(公告)号: | CN102738252A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 盛健 | 申请(专利权)人: | 常州天合光能有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/068;H01L31/18 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人: | 王凌霄 |
地址: | 213031 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双面 钝化 mwt 太阳电池 及其 制造 方法 | ||
1.一种双面钝化的MWT太阳电池,包括硅基体(1)、发射极电极(2)以及基极电极(3),硅基体(1)正表面设有扩散掺杂层(4),位于扩散掺杂层(4)上方设有SiNx减反层(5),其特征是:所述的SiNx减反层(5)与扩散掺杂层(4)之间设有正表面介质膜层(6),硅基体(1)背表面的铝层表面上设有背表面介质膜层(7),背表面介质膜层(7)的外表面设有背表面掩膜层(8),基极电极(3)位于背表面掩膜层(8)的外表面上。
2.根据权利要求1所述的双面钝化的MWT太阳电池,其特征是:所述的正表面介质膜层(6)的厚度为5~30nm。
3.根据权利要求1所述的双面钝化的MWT太阳电池,其特征是:所述的背表面介质膜层(7)的厚度为5~30nm。
4.根据权利要求1所述的双面钝化的MWT太阳电池,其特征是:所述的背表面掩膜层(8)的厚度为50~200nm。
5.一种权利要求1所述的双面钝化的MWT太阳电池的制造方法,其特征是:包括以下步骤:
a、硅基体(1)抛光:采用机械、碱或者酸抛光工艺,对硅基体(1)表面抛光;
b、单面沉积阻挡层:采用化学气相沉积或原子层沉积的方式沉积介质膜;
c、从硅基体(1)正表面向硅基体(1)背表面采用激光打通孔;
d、沿着以通孔为中心,去除掩膜层,用于形成硅基体(1)正面、背面以及通孔内部的扩散掺杂层(4);
e、采用制绒工艺对硅基体(1)制绒,并去除激光损伤层;
f、通过掺杂工艺对硅基体(1)进行扩散掺杂,在硅基体(1)正面、通孔及背面通孔周边区域形成PN结;
g、磷硅玻璃去除,选用稀氢氟酸溶液去除硅基体(1)正面及通孔的磷硅玻璃以及步骤b中形成的掩阻挡层;
h、在硅基体(1)背表面进行沉积处理,形成厚度为5~30nm的背表面介质膜层(7),在背表面介质膜层(7)上沉积处理,形成厚度为50~200nm的背表面掩膜层(8);
i、在硅基体(1)正表面进行沉积处理,形成厚度为5~30nm的正表面介质膜层(6),正表面介质膜层(6)上沉积,形成SiNx减反层(5);
j、硅基体(1)正、背表面采用丝网印刷和烧结方式,在硅基体(1)正、背表面及通孔形成发射极电极(2),在硅基体(1)背表面形成基极电极(3)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的