[发明专利]一种双面异质结太阳电池及制备方法有效
申请号: | 201210206186.7 | 申请日: | 2012-06-20 |
公开(公告)号: | CN102751370A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 郭万武 | 申请(专利权)人: | 常州天合光能有限公司 |
主分类号: | H01L31/0747 | 分类号: | H01L31/0747;H01L31/0352;H01L31/0224;H01L31/18 |
代理公司: | 常州市维益专利事务所 32211 | 代理人: | 王凌霄 |
地址: | 213031 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双面 异质结 太阳电池 制备 方法 | ||
1.一种双面异质结太阳电池,包括硅片基体层(1),其特征是:所述硅片基体层(1)背面从内到外依次具有本征层(2)、重掺杂BSF层(3)以及背电极(4),硅片基体层(1)的正面具有平行设置呈倾斜状的槽体(5),槽体(5)斜面上分别设有本征硅薄膜(6)和p型硅薄膜层(7),在p型硅薄膜层(7)上设有作为正面电极的透明导电薄膜(10),透明导电薄膜(10)和槽体(5)底面上分别设有薄膜减反层(8),硅片基体层(1)表面还具有与透明导电薄膜(10)电性连接的银浆层(9)。
2.根据权利要求1所述的双面异质结太阳电池,其特征是:所述的槽体(5)的侧面斜度为45°,槽体(5)底面宽度为10μm,槽体(5)深度为80μm。
3.根据权利要求1所述的双面异质结太阳电池,其特征是:所述的硅片基体层(1)的厚度为150~300μm,重掺杂BSF层(3)的厚度为10~50nm,背电极(4)的厚度为1~3μm,本征硅薄膜(6)的厚度为5~10nm,p型硅薄膜层(7)的厚度为5~30nm。
4.根据权利要求1所述的双面异质结太阳电池,其特征是:所述的背电极(4)材料为金属铝膜或导电薄膜。
5.根据权利要求1所述双面异质结太阳电池的制备方法,其特征是:具有以下步骤:
1)采用厚度为150~300μm的n型单晶硅片作为衬底的硅片基体层(1),并对硅片基体层(1)表面进行常规清洗;
2)在硅片基体层(1)背面采用PECVD沉积本征层(2),在本征层(2)表面沉积一层重掺杂BSF层(3),厚度为10~50nm,同时形成可改善载流子输送的背面场BSF;
3)在重掺杂BSF层(3)表面采用磁控溅射方式沉积厚度为1~3μm金属铝膜或导电薄膜作为背电极(4);
4)在硅片基体层(1)正面采用激光刻槽方式制备平行的倾斜状的槽体(5);
5)对槽体(5)内进行常规化学清洗,并在槽体(5)内采用PECVD或HWCVD或LPCVD方法依次沉积本征硅薄膜(6)和p型硅薄膜层(7);
6)利用湿法刻蚀法对槽体(5)底部的p型硅薄膜层(7)进行刻蚀去除,保留槽体(5)斜面上的p型硅薄膜层(7);
7)在p型硅薄膜层(7)上采用磁控溅射沉积透明导电薄膜(10),然后在透明导电薄膜(10)上采用丝网印刷技术制备低温银浆层(9),并在低于200℃条件下烘干形成电极;
8)在硅片基体层(1)正面其他区域采用PECVD法结合掩膜技术沉积薄膜减反层(8),得到异质结太阳电池。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的