[发明专利]一种双面异质结太阳电池及制备方法有效

专利信息
申请号: 201210206186.7 申请日: 2012-06-20
公开(公告)号: CN102751370A 公开(公告)日: 2012-10-24
发明(设计)人: 郭万武 申请(专利权)人: 常州天合光能有限公司
主分类号: H01L31/0747 分类号: H01L31/0747;H01L31/0352;H01L31/0224;H01L31/18
代理公司: 常州市维益专利事务所 32211 代理人: 王凌霄
地址: 213031 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 双面 异质结 太阳电池 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种双面异质结太阳电池,包括硅片基体层(1),其特征是:所述硅片基体层(1)背面从内到外依次具有本征层(2)、重掺杂BSF层(3)以及背电极(4),硅片基体层(1)的正面具有平行设置呈倾斜状的槽体(5),槽体(5)斜面上分别设有本征硅薄膜(6)和p型硅薄膜层(7),在p型硅薄膜层(7)上设有作为正面电极的透明导电薄膜(10),透明导电薄膜(10)和槽体(5)底面上分别设有薄膜减反层(8),硅片基体层(1)表面还具有与透明导电薄膜(10)电性连接的银浆层(9)。

2.根据权利要求1所述的双面异质结太阳电池,其特征是:所述的槽体(5)的侧面斜度为45°,槽体(5)底面宽度为10μm,槽体(5)深度为80μm。

3.根据权利要求1所述的双面异质结太阳电池,其特征是:所述的硅片基体层(1)的厚度为150~300μm,重掺杂BSF层(3)的厚度为10~50nm,背电极(4)的厚度为1~3μm,本征硅薄膜(6)的厚度为5~10nm,p型硅薄膜层(7)的厚度为5~30nm。

4.根据权利要求1所述的双面异质结太阳电池,其特征是:所述的背电极(4)材料为金属铝膜或导电薄膜。

5.根据权利要求1所述双面异质结太阳电池的制备方法,其特征是:具有以下步骤:

1)采用厚度为150~300μm的n型单晶硅片作为衬底的硅片基体层(1),并对硅片基体层(1)表面进行常规清洗;

2)在硅片基体层(1)背面采用PECVD沉积本征层(2),在本征层(2)表面沉积一层重掺杂BSF层(3),厚度为10~50nm,同时形成可改善载流子输送的背面场BSF;

3)在重掺杂BSF层(3)表面采用磁控溅射方式沉积厚度为1~3μm金属铝膜或导电薄膜作为背电极(4);

4)在硅片基体层(1)正面采用激光刻槽方式制备平行的倾斜状的槽体(5);

5)对槽体(5)内进行常规化学清洗,并在槽体(5)内采用PECVD或HWCVD或LPCVD方法依次沉积本征硅薄膜(6)和p型硅薄膜层(7);

6)利用湿法刻蚀法对槽体(5)底部的p型硅薄膜层(7)进行刻蚀去除,保留槽体(5)斜面上的p型硅薄膜层(7);

7)在p型硅薄膜层(7)上采用磁控溅射沉积透明导电薄膜(10),然后在透明导电薄膜(10)上采用丝网印刷技术制备低温银浆层(9),并在低于200℃条件下烘干形成电极;

8)在硅片基体层(1)正面其他区域采用PECVD法结合掩膜技术沉积薄膜减反层(8),得到异质结太阳电池。

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