[发明专利]一种绝对零点磁栅测量系统有效
申请号: | 201210206361.2 | 申请日: | 2012-06-20 |
公开(公告)号: | CN102706371A | 公开(公告)日: | 2012-10-03 |
发明(设计)人: | 刘坚伟;姜堃达;吴彬;沈晓峰 | 申请(专利权)人: | 上海平信机电制造有限公司 |
主分类号: | G01D5/244 | 分类号: | G01D5/244 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 宣慧兰 |
地址: | 201106 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 绝对 零点 测量 系统 | ||
1.一种绝对零点磁栅测量系统,其特征在于,包括磁尺和读磁头,所述的磁尺设有绝对零点磁道和增量式磁道,所述的绝对零点磁道设有至少一个绝对零点,所述的读磁头包括增量传感器、零位传感器、与门逻辑电路、细分芯片和驱动芯片,所述的细分芯片的输入端连接增量传感器,细分芯片的A、B相信号输出端连接驱动芯片,细分芯片的脉冲信号输出端与零位传感器的输出端经过与门逻辑电路后接入驱动芯片;
所述的增量传感器和零位传感器分别位于增量式磁道和绝对零点磁道产生的磁场内,增量传感器输出两路正/余弦信号至细分芯片,经细分芯片转换为TTL电平的A、B相信号,该A、B相信号输入至驱动芯片产生位置脉冲,零位传感器在位于绝对零点磁道的S极处时产生脉冲信号,与细分芯片输出的脉冲信号经过逻辑与运算后产生零位信号输入驱动芯片。
2.根据权利要求1所述的一种绝对零点磁栅测量系统,其特征在于,所述的所述的读磁头位于磁尺的正上方,沿磁尺的长度方向直线移动。
3.根据权利要求2所述的一种绝对零点磁栅测量系统,其特征在于,所述的磁尺由中央进行分割,一半为增量式磁道,另一半为绝对零点磁道。
4.根据权利要求3所述的一种绝对零点磁栅测量系统,其特征在于,所述的增量传感器位于增量式磁道的正上方,所述的零位传感器位于绝对零点磁道的正上方。
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