[发明专利]一种致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定方法与装置

权利要求书

1.一种致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定方法，其特征在于，所述测定方法包括：

步骤A：将岩心样品薄片放置到全环境场发射扫描电镜工作腔中，获取逐渐由粗变细的一条吼道；

步骤B：对所述吼道由粗端依次选取1、2、3、4、…、n、n+1个点，并对所述n+1个点逐点进行能谱测定，获取各点的碳含量；

步骤C：在所述步骤B中，获取到的n点具有碳含量，使用所述全环境场发射扫描电镜测量其对应的吼道半径是r_n，n+1点没有碳含量，使用所述全环境场发射扫描电镜测量其对应的吼道半径为r_n+1，则所述吼道对应的致密砂岩储层成藏吼道半径下限值r的取值区间为r_n<r<r_n+1；

步骤D：重复步骤A、B、C，对同一岩心样品薄片进行多次测量，得到多个吼道对应的致密砂岩储层成藏吼道半径下限值的取值区间；

步骤E：对得到的所述多个吼道对应的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限值的取值区间取交集，得到最终的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限值。

2.根据权利要求1所述的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定方法，其特征在于，所述步骤A中的选取的岩心样品为产油层段样品。

3.根据权利要求2所述的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定方法，其特征在于，所述岩心样品薄片在制作过程中，没有进行洗油和添加使用任何含碳类物质。

4.根据权利要求1所述的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定方法，其特征在于，在所述步骤A中，选取吼道时先使用能谱仪进行能谱面扫描，以便于初始寻找含油吼道的位置。

5.根据权利要求1所述的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定方法，其特征在于，在所述步骤C中，当获取到所述吼道对应的致密砂岩储层成藏吼道半径下限值r的取值区间为r_n<r<r_n+1后，如果n点和n+1点之间的宽度过大，也可以在n点和n+1点之间重新取多个点，重复所述步骤B和步骤C，利用逼近法得到更为精确的所述吼道对应的致密砂岩储层成藏吼道半径下限值的取值区间。

6.一种致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定装置，其特征在于，所述测定装置包括：

吼道获取装置，用于获取岩心样品薄片中的多条逐渐由粗变细的吼道；

碳含量获取装置，用于对所述获取的多条逐渐由粗变细的吼道由粗端依次选取1、2、3、4、…、n、n+1个点，并对所述n+1个点逐点进行能谱测定，获取各点的碳含量；

吼道半径下限值获取装置，用于根据所述碳含量获取装置得到的各点的碳含量，得到所述多条吼道对应的多个致密砂岩储层成藏吼道半径下限值；

取交集装置，用于对所述多个致密砂岩储层成藏孔喉半径下限值的取值区间取交集，得到最终的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限值。

7.根据权利要求6所述的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定装置，其特征在于，所述吼道获取装置为全环境场发射扫描电镜。

8.根据权利要求6所述的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定装置，其特征在于，所述的岩心样品为产油层段样品，所述岩心样品薄片在制作过程中，没有进行洗油和添加使用任何含碳类物质。

9.根据权利要求7所述的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定装置，其特征在于，使用所述全环境场发射扫描电镜选取吼道时，先使用能谱仪进行能谱面扫描，以便于初始寻找含油吼道的位置。

10.根据权利要求7所述的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定装置，其特征在于，所述吼道半径下限值获取装置根据碳含量获取装置得到的n+1个点中的n点处具有碳含量，使用所述全环境场发射扫描电镜测量其对应的吼道半径是r_n，n+1点没有碳含量，使用所述全环境场发射扫描电镜测量其对应的吼道半径为r_n+1，则所述吼道对应的致密砂岩储层成藏吼道半径下限值r的取值区间为r_n<r<r_n+1；

所述吼道半径下限值获取装置还对同一岩心样品薄片进行多次测量，得到多个吼道对应的致密砂岩储层成藏吼道半径下限值的取值区间。

11.根据权利要求10所述的致密砂岩储层成藏孔喉半径下限的测定装置，其特征在于，所述吼道半径下限值获取装置获取到所述吼道对应的致密砂岩储层成藏吼道半径下限值r的取值区间为r_n<r<r_n+1后，如果n点和n+1点之间的宽度过大，也可以在n点和n+1点之间重新取多个点，利用逼近法得到更为精确的所述吼道对应的致密砂岩储层成藏吼道半径下限值的取值区间。