[发明专利]局部放电超高频脉冲信号的相角测量方法及装置有效

专利信息
申请号: 201210211531.6 申请日: 2012-06-25
公开(公告)号: CN102692564A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 胡岳;朱文俊;王红斌;李峰;郑晓光;罗颖婷;盛戈皞;江秀臣;钱勇;汤林;司良奇 申请(专利权)人: 广东电网公司电力科学研究院;上海交通大学
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00;G01R31/12
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 王茹;曾旻辉
地址: 510080 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 局部 放电 超高频 脉冲 信号 相角 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.局部放电超高频脉冲信号的相角测量方法,其特征在于,包括步骤:

在工频信号上升沿的每个过零点时刻同步输出频率特性固定的超高频信号;

利用脉冲触发方式采样局部放电超高频信号及上述输出的频率特性固定的超高频信号;

记录每次采样时的瞬时时刻以及采样的超高频信号波形;

根据记录的超高频信号波形提取出超高频信号的时频参数;

根据所述时频参数分离出所述频率特性固定的高频信号;

根据所采样的各个局部放电超高频信号的采样时刻,以及与当前采样的局部放电超高频信号相邻的、频率特性固定的超高频信号的采样时刻,计算局部放电超高频脉冲信号的相角。

2.根据权利要求1所述的局部放电超高频脉冲信号的相角测量方法,其特征在于:

所述时频参数包括:t0、f0、T以及W;其中,

t0=Σi=0Ktisi(ti)2Σi=0Ksi(ti)2;]]>f0=Σi=0Kfi|Xi(fi)|2Σi=0K|Xi(fi)|2;]]>T=Σi=0K(ti-t0)2si(ti)2Σi=0Ksi(ti)2;]]>

W=Σi=0K(fi-f0)|Xi(fi)|2Σi=0K|Xi(fi)|2;]]>

K是设备采集超高频信号的采样点数,si(ti)是记录的某个超高频脉冲信号在ti时刻采样数据;i为采样波形的采样序号;Xi(fi)是经过FFT变换以后的采样信号频率分量;t0是中心时间;f0是中心频率;T是等效时长;W是等效频宽。

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