[发明专利]液晶面板的检验方法及设备

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别是涉及一种关于液晶面板的残像的检验方法及设备。

背景技术

现如今薄膜场效应晶体管LCD（TFT-LCD）产品已经广泛的应用于人们的生产和生活当中，这其中包括电视、显示器、以及便携式的电子显示产品等，各大液晶面板厂商都在努力提高产品的性能，降低能耗，增大视角，减小响应时间。这其中对于显示液晶面板残像的改善尤为重要。因为它直接影响了显示画面的品质。

残像的是指长时间驱动特定停止画像(High gray)后，变换为其他画像(Low gray）时留有原来画像的图案的现象。残像是发生在液晶盒内部的一种现象，由于长时间显示静止画面后，改变为其他图像时，液晶分子不能即时完全的发生偏转以适应新的画面，从而影响了显示效果。

残像依据发生的形态和位置不同可以分为面残像（area image sticking）和线残像（line image sticking）两种。对残像机理的研究表明，产生残像的主要原因是残留电荷的影响，这包括外加电场作用下在液晶盒内部产生的极化电荷以及在液晶盒内部杂质电荷的不同分布。这些残留的电荷会影响液晶在液晶盒顶部和底部的取向，从而使得残像发生在整个液晶面板区域，比较严重的分布在具有明显颜色差别的图像交界位置。残像的产生还受其他因素影响，比如外界温度，画面类型和静止时间长短，亮度等级等。

现有技术中，进行残像评价时间较长，通常为168小时，残像结果只有在评价结束以后才可以判断，如果液晶面板电压设置出现偏差，或者由于设计和工艺等原因使得液晶面板发生残像的几率变大，也只有在残像评价结束以后方可得到相应结论。目前并没有可以通过可测试液晶面板参数来判断残像发生几率的方法和装置。

发明内容

本发明的目的是提供一种关于液晶面板的残像的液晶面板的检验方法及设备，可以通过测试液晶面板参数来比较快捷的判断残像发生几率。

本发明的液晶面板的检验方法，包括：

测试液晶面板的公共电极均匀性；

根据所述液晶面板的公共电极均匀性结果判定所述液晶面板的残像发生几率。

本发明的液晶面板的检验方法，其中，所述测试液晶面板的公共电极均匀性包括：

测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值；

根据所述最佳公共电压的数值来判断所述液晶面板的公共电极均匀性。

本发明的液晶面板的检验方法，其中，所述测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值包括：

将液晶面板划分为多个区域；

对所述液晶面板通电，在闪烁画面下，对所述液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压，分别测试所述多个区域的中心点的闪烁强度的大小，分别确定在所述多个区域的中心点的闪烁强度小于一门限值的情况下的外加交变电压的数值，所述多个区域的该电压的数值为所述液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值。

本发明的液晶面板的检验方法，其中，所述测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值包括：

将液晶面板划分为多个区域；

对所述液晶面板通电，在闪烁画面下，对所述液晶面板输入逐渐增大的交变的公共电极电压，分别测试所述多个区域的中心点的闪烁强度的大小，分别确定在所述多个区域的中心点的闪烁强度最小的情况下的外加交变电压的数值，所述多个区域的该电压的数值为所述液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值。

本发明的液晶面板的检验方法，其中，所述根据所述最佳公共电压的数值来判断所述液晶面板的公共电极均匀性为：

计算所述最佳公共电压的数值的标准差；

根据所述标准差判定所述液晶面板的公共电极均匀性。

本发明的液晶面板的检验方法，其中，所述根据所述标准差判定所述液晶面板的公共电极均匀性包括：

判断所述最佳公共电压的数值的标准差的是否小于0.03，如果所述最佳公共电压的数值的标准差小于0.03，则判断所述液晶面板的公共电极均匀；如果所述最佳公共电压的数值的标准差大于0.03，则判断所述液晶面板的公共电极不均匀。

本发明的液晶面板的检验设备，包括：

用于测试液晶面板的公共电极均匀性的测试装置；

根据所述液晶面板的公共电极均匀性结果判定所述液晶面板的残像发生几率的判断装置，与所述测试装置电连接。

本发明的液晶面板的检验设备，其中，所述测试装置包括：

用于测量液晶面板上的多个不同位置的最佳公共电压的数值的测量装置；