[发明专利]包括可变电阻元件的半导体器件和操作半导体器件的方法

权利要求书

1.一种操作包括可变电阻元件的半导体器件的方法，所述方法包含：

把第一电压施加于可变电阻元件，以便把可变电阻元件的电阻值从第一电阻值改变到第二电阻值，其中，第一电阻值和第二电阻值不同；

感测流过被施加了第一电压的可变电阻元件的第一电流；

确定第一电流是否落入第一范围内和第二范围内；

如果第一电流未落入第一范围内，则调制用于把可变电阻元件的电阻值从第二电阻值改变到第一电阻值的第二电压；和

如果第一电流未落入第二范围内，则把第一电压再次施加于可变电阻元件。

2.如权利要求1所述的方法，其中，调制第二电压包含：改变第二电压的绝对值和脉冲宽度中的至少一个。

3.如权利要求1所述的方法，其中，确定第一电流是否落入第一范围内包含：把感测的第一电流与第一电流的平均进行比较。

4.如权利要求3所述的方法，其中，调制第二电压包含：当感测的第一电流低于第一电流的平均时增大第二电压，并且当感测的第一电流高于第一电流的平均时减小第二电压。

5.如权利要求1所述的方法，其中，调制第二电压包含：以第一电流的散布越大则第二电压的变化越大的方式调制第二电压。

6.如权利要求1所述的方法，还包含当第一电流落入第一范围内时保持第二电压恒定。

7.如权利要求1所述的方法，其中，当第一电流大于第二范围的最大值时执行再次施加第一电压。

8.如权利要求1所述的方法，还包含：当第一电流未落入第二范围内并且第一电流小于第二范围的最小值时，把经调制的第二电压施加于可变电阻元件。

9.如权利要求1所述的方法，还包含：把经调制的第二电压施加于可变电阻元件。

10.如权利要求9所述的方法，其中，在对可变电阻元件执行擦除操作的同时，执行施加经调制的第二电压。

11.如权利要求1所述的方法，其中，第二电阻大于第一电阻。

12.如权利要求1所述的方法，其中，第一电阻是置位电阻，并且第二电阻是复位电阻。

13.如权利要求1所述的方法，其中，感测流过可变电阻元件的第一电流包含：通过施加读电压来感测流过被施加了第一电压的可变电阻元件的第一电流，所述读电压的绝对值低于第一电压。

14.如权利要求1所述的方法，在确定第一电流是否落入第一范围内之前，还包含确定第一电流是否落入验证范围内，所述验证范围是与第二电阻值相对应的数据的电流的范围。

15.如权利要求14所述的方法，如果第一电流大于验证范围的最大值，则还包含改变第一电压。

16.如权利要求15所述的方法，其中，重复地执行把改变后的第一电压施加于可变电阻元件和感测流过可变电阻元件的第一电流。

17.如权利要求14所述的方法，其中，如果第一电流小于验证范围的最小值，则还包含：把第三电压施加于可变电阻元件，以便把可变电阻元件的电阻值从第二电阻值改变到第一电阻值。

18.如权利要求17所述的方法，其中，在施加第三电压之后，重复地执行把第一电压施加于被施加了第三电压的可变电阻元件和感测流过可变电阻元件的第一电流。

19.一种操作包括可变电阻元件的半导体器件的方法，所述方法包含：

把第一电压施加于可变电阻元件，以便把可变电阻元件的电阻值从第一电阻值改变到第二电阻值，其中，第一电阻值和第二电阻值不同；

感测流过被施加了第一电压的可变电阻元件的第一电流；

基于第一电流的散布，调制用于把可变电阻元件的电阻值从第二电阻值改变到第一电阻值的第二电压；和

基于第一电流的散布，把第一电压再次施加于可变电阻元件。