[发明专利]磁记录介质用玻璃基板及使用该磁记录介质用玻璃基板的磁记录介质有效
| 申请号： | 201210216094.7 | 申请日： | 2012-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN102855888A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 玉田稔 | 申请（专利权）人： | 旭硝子株式会社 |
| 主分类号： | G11B5/84 | 分类号： | G11B5/84;G11B5/62 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人： | 高培培;车文 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 记录 介质 玻璃 使用 | ||
【权利要求书】：
1.一种磁记录介质用玻璃基板，具有一对主平面、外周端面和内周端面，其特征在于，
对于至少一侧的主平面，在格子状的各评价区域测定微小波纹度（nWq）时，一个评价区域和与该一个评价区域相邻的评价区域之间的微小波纹度的变化量的绝对值（ΔnWq）相对于所述一个评价区域的微小波纹度的比率（变化率）为10％以下，在所述格子状的各评价区域测定的微小波纹度（nWq）的平均值为0.080nm以下，
其中，所述格子状的各评价区域是在包含制成磁盘时成为记录重放区域的区域的整个面的主平面的整个面上设定的。
2.如权利要求1所述的磁记录介质用玻璃基板，其中，在所述格子状的各评价区域测定的微小波纹度（nWq）的平均值为0.060nm以下。
3.如权利要求1或2所述的磁记录介质用玻璃基板，其中，在所述格子状的各评价区域测定的微小波纹度（nWq）的标准偏差为0.0060nm以下。
4.一种磁记录介质，其使用如权利要求1～3中任一项所述的磁记录介质用玻璃基板。
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