[发明专利]电子设备的过电流保护点设置方法、系统及控制装置有效
申请号: | 201210220045.0 | 申请日: | 2012-06-29 |
公开(公告)号: | CN102739212A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 谢留群;胡香荣 | 申请(专利权)人: | 台达电子企业管理(上海)有限公司;台达电子电源(东莞)有限公司 |
主分类号: | H03K17/08 | 分类号: | H03K17/08 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;田景宜 |
地址: | 201209 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子设备 电流 保护 设置 方法 系统 控制 装置 | ||
1.一种电子设备的过电流保护点的设置方法,其特征在于,所述方法应用于一种电子设备的过电流保护点设置系统中,所述系统包括:参数自动测试设备、第一驱动信号产生器以及电子设备,所述电子设备包括过电流保护模块,所述过电流保护模块设置有阻值调整单元,所述参数自动测试设备与所述第一驱动信号产生器连接,所述参数自动测试设备设置有一自动调整控制单元,该方法包括以下步骤:
步骤1,所述参数自动测试设备基于所述自动调整控制单元发出一启动信号并输出一过电流保护目标电流;
步骤2,所述第一驱动信号产生器接收所述启动信号并发出一驱动信号给所述过电流保护模块;
步骤3,所述电子设备接收所述过电流保护目标电流,所述过电流保护模块接收所述驱动信号并调整所述阻值调整单元的阻值至所述电子设备的过电流保护点。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤3之后还执行以下步骤:
步骤4,所述参数自动测试设备基于所述自动调整控制单元对所述电子设备的输出进行测量,当所述电子设备的输出符合预定范围时,所述电子设备的过电流保护点设置成功,当所述电子设备的输出不符合预定范围时,所述电子设备的过电流保护点设置失败。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤4之后,当参数自动测试设备需要进行测试重工时,执行如下步骤:
步骤5,第二驱动信号产生器发出一重工屏蔽信号;
步骤6,所述过电流保护模块接收所述重工屏蔽信号,保持所述阻值调整单元的当前阻值不变,所述参数自动测试设备对所述电子设备继续进行除过电流保护之外的电学参数的测试。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤1之前包括一电子设备提前保护的确认步骤:
所述参数自动测试设备基于所述自动调整控制单元为所述电子设备提供所述过电流保护目标电流,测量所述电子设备的输出以判断所述电子设备是否出现提前保护,如果是,所述参数自动测试设备结束测试,如果否,执行步骤1。
5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述阻值调整单元为阻值可调的数字电阻单元。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电子设备为开关电源,所述方法应用于开关电源的过电流保护点设置系统中。
7.一种电子设备的过电流保护点的设置系统,其特征在于,包括:
参数自动测试设备,其中设置有一自动调整控制单元,所述自动调整控制单元控制所述参数自动测试设备发出一启动信号并输出一过电流保护目标电流;
电子设备,该电子设备包括一过电流保护模块,所述过电流保护模块设有一阻值调整单元,所述电子设备接收所述过电流保护目标电流,所述过电流保护模块接收一驱动信号;
第一驱动信号产生器,接收所述启动信号并发出所述驱动信号给所述过电流保护模块;
所述驱动信号驱动所述阻值调整单元调整自身阻值至所述电子设备的过电流保护点。
8.如权利要求7所述系统,其特征在于,所述参数自动测试设备基于自动调整控制单元的控制在所述阻值调整单元的阻值调整完成之后检测电子设备的输出以判断电子设备的过电流保护点是否设置成功,若成功,参数自动测试设备对所述电子设备继续进行预定电学参数的测试,否则结束测试。
9.如权利要求8所述系统,其特征在于,所述阻值调整单元为数字电阻单元。
10.如权利要求9所述系统,其特征在于,所述数字电阻单元包括多个相互连接的电阻;所述数字电阻单元通过熔断部分电阻之间的连接,调整自身阻值。
11.如权利要求6所述系统,其特征在于,所述系统还包括一第二驱动信号产生器,所述第二驱动信号产生器接收所述参数自动测试设备发出的启动信号并发出一重工屏蔽信号至所述过电流保护模块,所述过电流保护模块维持所述阻值调整单元的当前阻值不变。
12.如权利要求11所述系统,其特征在于,所述第一驱动信号产生器和/或所述第二驱动信号产生器,集成于所述参数自动测试设备。
13.如权利要求7至11任一所述系统,其特征在于,所述电子设备为开关电源。
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