[发明专利]一种轨道车辆电气元件地面测试装置及其测试方法无效

专利信息
申请号: 201210220062.4 申请日: 2012-06-28
公开(公告)号: CN102707180A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 刘正;曹闯;何强;姚远;贺志奎;何海峰;冯新颖;王爱武 申请(专利权)人: 南京南车浦镇城轨车辆有限责任公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/327
代理公司: 江苏圣典律师事务所 32237 代理人: 程化铭
地址: 210031 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 轨道 车辆 电气 元件 地面 测试 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种轨道车辆电气元件地面测试装置,包括机架(1),其特征在于,在所述的机架(1)中安装有工控机(2),工控机(2)分别与显示器(3)、I/O板卡(4)、D/A板卡(5)、A/D板卡(6)、打印机(7)相连,所述的I/O板卡(4)、D/A板卡(5)、A/D板卡(6)均与矩阵式单元电路(8)相连,矩阵式单元电路(8)分别与程控多路恒流源(9)、程控电压源(10)、电压表(11)、电流表(12)和被测试实验平台(13)相连;

其中,所述的矩阵式单元电路(8)用于控制程控多路恒流源(9)的每一路的通断以及电流值;用于控制程控电压源(10)每一路的通断以及电压值,以及测量信号的同步切换;所述的被测试验平台(13)上设有安装待测电气原件的插座。

2.利用权利要求1所述的装置测试轨道车辆电气元件的方法,其特征在于包括如下步骤:

(1)选择待测元器件的型号:如果系统中存在该型号的元器件,则系统自动调入其试验参数;若系统中没有相应型号的电气元器件,则打开元器件添加界面进行元器件型号、试验参数等的设置,系统自动保存新添加的电气元器件的试验参数;

(2)元器件的型号确定后,分别进行线圈电阻测量、触点接触电阻测量、触点动作时间及抖动波形测试、动作电压测试;

a、线圈电阻测量:被测件线圈并联,由程控电压源供电;系统根据被测元器件型号选择电压源,并设定程控电压源的输出电压为被测元器件线圈的额定电压;A/D板卡分别采集各个被测元器件的线圈电流,然后根据额定电压、线圈电流计算出线圈电阻值;

b、触点接触电阻测量:系统根据被测元器件型号选择程控多路恒流源供电,将程控多路恒流源的输出电流设定成待测元器件的触点测试电流;分路同步切换恒流源及信号总线,分别测量各个被测元件触点上的电压降,再计算出接触电阻值;

c、触点动作时间及抖动波形测试:系统根据被测元器件型号选择程控多路恒流源、程控电压源,通过D/A板卡设定程控电压源的输出为元器件线圈的额定电压值,设定恒程控多路恒流源输出为触点测试电流;

从检测到线圈通电或断电开始计时,到检测到触点动作执行到位结束计时,期间的计时值即为动作时间;触点动作时间包括了闭合动作时间和断开动作时间;

系统开始给被测元器件供电时,开始计时,然后测试元器件的触点压降,根据触点压降、触点测试电流计算出触点电阻;并同时记录随时间变化的接触电阻,以≥100kHz的采样速率测量触点接触电阻并记录,绘制时间-触点接触电阻曲线,该组数据按时间轴展开形即抖动波形曲线图。直到触点闭合,停止计时,此时的时间即为该元器件的触点闭合动作时间;如果触点没有闭合,则继续测试触点压降、计算触点接触电阻,绘制抖动波形曲线图,直到触点闭合,再停止计时,此为该元器件的触点闭合动作时间;

停止触点闭合以后,停止输出线圈电压,即断电,并开始计时;测试出电压降,计算触点接触电阻;并同时记录随时间变化的接触电阻,以≥100kHz的采样速率测量触点接触电阻,并绘制时间-触点接触电阻曲线图,该组数据按时间轴展开形即抖动波形曲线图;直到触点断开,记录到此时的时间,即为触点断开动作时间;如果触点没有断开,则继续测试触点压降、计算触点接触电阻,绘制抖动波形曲线图,直到触点断开,再停止计时,此为该元器件的触点断开动作时间;

d、动作电压测试:元器件的动作电压包括吸合电压、释放电压,系统根据被测元器件型号选择程控电压源、程控多路恒流源,设定程控多路恒流源的输出电流为元器件触点测试电流,控制程控电压源给出幅度逐步变化的电压,并施加到线圈上;并不断判被测元器件是否闭合:如果没有闭合,则一直持续的增加施加到线圈上的电压;如果该元器件的触点闭合,则记录此时施加到该元器件线圈上的电压,即为其吸合电压;

然后,将程控电压源的输出电压设为线圈的额定电压,如果触点没有断开,则逐渐减小施加到线圈上的电压,直到触点断开,记录此时的电压,即为该元器件断开时的电压,即,释放电压;然后停止为输出线圈供电,完成动作电压的数据采集;

(3)上述元器件的线圈电阻、触点接触电阻、触点动作时间以及抖动波形曲线、动作电压测试完成之后,与系统中存储的该元器件的试验参数进行比对;如果测试参数在试验参数的范围之内,则说明该元器件没有问题;如果测试参数不在试验参数的范围之内,则说明该元器件有问题,由此剔除掉有问题的元器件。

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