[发明专利]光拾取装置以及分光元件的位置调整方法无效
申请号: | 201210226771.3 | 申请日: | 2012-06-29 |
公开(公告)号: | CN102855894A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 尾形正人;吉江将之 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社 |
主分类号: | G11B7/131 | 分类号: | G11B7/131;G11B7/1353;G11B7/09 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 拾取 装置 以及 分光 元件 位置 调整 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种光拾取装置以及光拾取装置的分光元件(分光素子)的位置调整方法,特别适于在对层叠多个记录层而成的记录介质照射激光时使用。
背景技术
近年来,随着光盘的大容量化,正在推进记录层的多层化。通过使一张盘内包含多个记录层,能够显著提高盘的数据容量。在层叠记录层时,以往较为普遍的是单面双层,但是最近为了进一步推进大容量化,单面配置三层以上记录层的盘也被实用化。在此,当使记录层的层叠数增加时,能够促进盘的大容量化。但是,另一方面,记录层之间的间隔变窄,层间串扰所引起的信号劣化增大。
当使记录层多层化时,来自作为记录和再现对象的记录层(目标记录层)的反射光变微弱。因此,担心有如下问题:当无用的反射光(杂散光)从位于目标记录层上下的记录层入射到光检测器时,检测信号劣化,从而对聚焦伺服和循迹伺服产生不良影响。因而,在像这样配置多个记录层的情况下,需要适当地去除杂散光以使来自光检测器的信号稳定。
在下面的专利文献1中,示出了一种在配置了多个记录层的情况下能够适当地去除杂散光的光拾取装置的新结构。根据该结构,能够在光检测器的受光面上形成只有信号光存在的方形区域(信号光区域)。来自记录介质的反射光被照射到信号光区域的顶角附近。通过在信号光区域的顶角附近配置光检测器的传感器来能够抑制杂散光对检测信号的影响。
专利文献1:日本特开2009-211770号公报
发明内容
发明要解决的问题
在上述光拾取装置中,有可能发生以下情况:由于杂散光被照射到接近信号光区域的位置,因此照射到信号光区域的外侧的杂散光会漏入传感器。
另外,在上述光拾取装置中,为了将来自记录介质的反射光分离成各信号光而配置有分光元件。在这种情况下,为了将各信号光适当地引导至传感器,需要将分光元件配置于适当的位置。
本发明是鉴于这种问题而完成的,其目的在于提供一种能够顺利地抑制杂散光漏入传感器、并且能够将分光元件配置于适当的位置的光拾取装置以及分光元件的位置调整方法。
用于解决问题的方案
本发明的第一方式涉及一种光拾取装置。该方式所涉及的光拾取装置具备:激光光源;物镜,其使从上述激光光源射出的激光会聚到记录介质上;像散元件,被上述记录介质反射的上述激光入射到该像散元件,并且,该像散元件使上述激光向第一方向会聚来形成第一焦线,并且使上述激光向垂直于上述第一方向的第二方向会聚来形成第二焦线;光检测器,其接收通过了上述像散元件的上述激光;以及分光元件,被上述记录介质反射的上述激光入射到该分光元件,并且,该分光元件将入射到两个第一区域和两个第二区域的上述激光分别引导至上述光检测器的受光面上的不同的四个位置,并且将入射到第三区域的上述激光引导至上述光检测器的受光面上的与上述四个位置不同的一个位置。在此,上述光检测器具有配置于入射到上述两个第一区域和上述两个第二区域的激光被引导到的位置处的多个传感器、以及配置于入射到上述第三区域的激光被引导到的位置处的4分割传感器。另外,在使与上述第一方向和上述第二方向分别平行且相交叉的两条直线的交点位于上述激光的光轴时,上述两个第一区域被配置在由上述两条直线作出的一组对顶角所排列的方向上,上述两个第二区域被配置在另一组对顶角所排列的方向上,上述第三区域被配置于上述两条直线的上述交点的位置。另外,上述4分割传感器被配置成:上述4分割传感器的两条分割线中的一条分割线朝向被上述记录介质反射的上述激光的光轴与上述光检测器的上述受光面相交的基准点的方向。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社,未经三洋电机株式会社;三洋光学设计株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210226771.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。