[发明专利]用于表示检查对象的辐射暴露的方法和相应的成像装置有效

专利信息
申请号: 201210227922.7 申请日: 2012-07-02
公开(公告)号: CN102846334A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: S.劳滕施莱格;M.弗劳姆 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;H05G1/30
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 谢强
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 用于 表示 检查 对象 辐射 暴露 方法 相应 成像 装置
【权利要求书】:

1.一种用于表示(40)检查对象(31)的检查区域(30)的通过放射成像引起的或可引起的辐射暴露的方法(1),包括以下方法步骤:

S1)获取所述检查对象(31)的检查区域(30)的3D图像(49);

S2)确定所述检查区域(30)的吸收系数;

S3)确定所述检查区域(30)的通过放射成像引起的或可引起的辐射暴露;

S4)在所述检查对象(31)的检查区域(30)的3D图像(49)中表示该检查区域(30)的辐射暴露;

S5)查询中断标准,并且如果不满足中断标准则跳到方法步骤S3。

2.根据权利要求1所述的方法(1),其特征在于,在对所述检查区域(30)的通过放射成像引起的或可引起的辐射暴露的确定(S3)中,考虑放射成像装置(10)的至少一个可选的参数,特别是可选的投影几何和/或可选的辐射剂量和/或可输送到放射成像装置(10)的X射线源(13)的电压。

3.根据权利要求1所述的方法(1),其特征在于,在放射成像之后进行对所述检查区域(30)的辐射暴露的确定(S3),其中,在对所述检查区域(30)的辐射暴露的确定中考虑放射成像装置(10)的至少一个可选的参数,特别是投影几何和/或辐射剂量和/或输送到放射成像装置(10)的X射线源(13)的电压。

4.根据上述权利要求中任一项所述的方法(1),其特征在于,对所述检查区域(30)的辐射暴露的确定(S3)包括辐射暴露的积累。

5.根据上述权利要求中任一项所述的方法(1),其特征在于,所述检查区域(30)的辐射暴露的表示(S4)包括最大值函数和/或特别是颜色编码的2D投影(41,42,43,44)。

6.根据上述权利要求中任一项所述的方法(2),其特征在于,在确定(S3)所述检查区域(30)的辐射暴露之后,确定(S6)所述检查区域(30)的温度,其中,在温度的确定(S6)中考虑所确定的辐射暴露的值,并且在所述检查对象(31)的检查区域(30)的3D图像(49)中表示所述温度。

7.根据权利要求6所述的方法(2),其特征在于,所述检查区域(30)的温度的确定(S6)包括温度随着时间的降低。

8.根据权利要求6或7所述的方法(2),其特征在于,所述检查区域(30)的温度的表示(S7)包括最大值函数和/或特别是颜色编码的2D投影(61,62,63,64)。

9.根据上述权利要求中任一项所述的方法(2),其特征在于,当所述检查区域(30)的所确定的辐射暴露或该检查区域(30)的温度的至少一个值超过预先给出的边界值时,输出光学和/或声学报警信号。

10.一种放射成像装置(10),包括C形臂(12)、X射线源(13)、X射线探测器(14)以及控制和显示装置(11),其特征在于,所述控制和显示装置(11)被构造用于:处理检查对象(31)的检查区域(30)的获取的3D图像(49),确定所述检查区域(30)的吸收系数,确定所述检查区域(30)的通过放射成像引起的或可引起的辐射暴露,在所述检查对象(31)的检查区域(30)的3D图像(49)中表示所述检查区域(30)的辐射暴露,以及查询中断标准。

11.根据权利要求10所述的放射成像装置(10),其特征在于,所述控制和显示装置(11)被构造用于执行按照权利要求1至9中任一项所述的方法(1)。

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