[发明专利]光信息记录介质重放装置及其控制方法

说明书

本申请是申请日为：2008年9月25日、申请号为：200880111407.4、发明名称为：“光信息记录介质重放装置及其控制方法”的PCT国际申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种采用超分辨重放技术来重放光信息记录介质的光信息记录介质重放装置及其控制方法。

背景技术

近年来，随着高度的信息化、信息通信以及多媒体技术的发展，对于光信息记录介质的高密度化、大容量化的要求也越来越高。

作为满足上述要求而进行开发的技术，例如有使信息记录层构成为多层结构的多层化技术、以及采用了重放膜的超分辨技术等。通过该超分辨技术，能够对长度短于光信息记录介质重放装置分辨极限的记录标记进行重放。

以下，关于多层化技术进行说明。首先，介绍多层化技术中结构较为简单的2层化技术。2层化光信息记录介质具有如专利文献1所示的结构：从重放激光入射面侧开始，依次设置了第1信息记录层、第2信息记录层，并以中间层隔开各信息记录层。此外，由于第1记录层为可使重放光透过的半透明层，因此，可使得通过重放激光入射面射入的重放激光在各信息记录层聚焦，从而能够在各个记录层记录和重放信息。从而，通过采用此类2层化技术，单纯计算可知，能够使上述光信息记录介质的信息记录容量增为2倍。

对于具有3层以上信息记录层的光信息记录介质，也能采用与上述2层化技术的例子同样的结构，即，从重放激光入射面开始以第1记录层、第2记录层、第3记录层……第n记录层的顺序来设置信息记录层，并且以中间层隔开各信息记录层。

上述光信息记录介质中并未采用超分辨技术，各层所记录的最短记录标记的长度长于光信息记录介质重放装置分辨极限的长度。

接下来说明超分辨技术。超分辨技术(超分辨率技术)是指，通过用于重放的光学系对记录标记长度为光学分辨率极限(以下称之为光衍射极限)以下的信号进行重放的技术。更具体地说，如果从光源照射出的光的波长为λ、用于形成光斑的物镜数值孔径为NA时，光斑直径大致为λ/NA。

对记录标记长度为该光衍射极限以下的记录标记进行记录和重放的技术称之为超分辨技术。此外，采用此类超分辨技术来重放光信息记录介质的技术称之为超分辨重放。

另外，已知相当于光斑直径之1/4的λ/(4NA)左右的长度为现有光信息重放装置的分辨极限，即，未采用超分辨技术的光信息重放装置的分辨极限。以下，将该极限简称为分辨极限。分辨极限在理论要素之外还受光学系内的其他要素的影响，因此，实际的分辨极限值和根据波长以及数值孔径求出的理论值之间有时会有一定差距。

如上所述，通过采用超分辨技术，能够对记录标记长度超过分辨极限的记录标记进行记录和重放，从而能够扩大光信息记录介质的信息记录容量。

在专利文献2中，作为超分辨技术，揭示了一种采用了具有凹凸形状预坑的超分辨技术的、被称为Super-ROM的超分辨光信息记录介质，预坑的该凹凸形状用于信息的重放。

虽然该超分辨光信息记录介质的详细重放机理尚不清楚，但是已证实，在重放专用型盘的反射膜上，如果以Mo、W、Si和Ge等取代历来使用的Al或Au，就能够对通过现有光学系所无法进行重放的、记录坑长度小于分辨极限的信号也进行重放。

此外，通过兼用上述多层化技术和超分辨技术，即，通过在多层光信息记录介质的各个信息记录层上采用超分辨技术而实现的、所谓多层超分辨技术，其作为一种可进一步扩大信息记录容量的技术备受瞩目。在此，该技术可适用于上述多层化技术中的上述2层化技术。此时，可称之为2层超分辨技术。

然而，一般情况下，要想以超分辨技术进行超分辨重放，需利用高于通常的重放激光功率。作为超分辨技术的一个示例，例如有在信息记录层上设置所谓的掩膜层的掩膜型超分辨技术。

该掩膜型超分辨技术根据不同的特性，可分为热模式方式和光模式方式2种。但是，无论是热模式方式还是光模式方式，制作掩膜区域和孔径(aperture)区域时，在介质中要求相对应的高温和较大光量。因此，要求比通常状态高的重放激光功率。此外，对于掩膜型超分辨技术以外的其他超分辨技术，例如专利文献2中记载的超分辨技术，也要求比通常状态高的重放激光功率。

但是，如果在不适当的高重放激光功率下对信息记录层进行重放，将会导致记录标记发生破损。

专利文献1：日本国专利申请公开特开2007-026503号公报(公开日：2007年2月1日)

专利文献2：日本国专利申请公开特开2001-250274号公报(公开日：2001年9月14日)