[发明专利]样本分析装置及信息处理装置有效
申请号: | 201210230973.5 | 申请日: | 2012-07-05 |
公开(公告)号: | CN102866246A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 伊藤贤一;进藤直树;齐藤纪幸 | 申请(专利权)人: | 希森美康株式会社 |
主分类号: | G01N33/48 | 分类号: | G01N33/48 |
代理公司: | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人: | 刘良勇 |
地址: | 日本兵库县神户市*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 样本 分析 装置 信息处理 | ||
1. 一种样本分析装置,包括:
用试剂对样本进行测定的测定部件;
显示部件;及
控制部件,在所述测定部件用所述试剂对充当样本的精度管理试样进行精度管理测定之后,所述控制部件让所述显示部件同时显示所得到的精度管理测定的结果和用于检验该精度管理测定中所使用的试剂的状态的试剂信息。
2. 根据权利要求1所述的样本分析装置,包括:
存储部件,用于存储所述测定部件测得的精度管理测定的结果和所述测定部件进行的精度管理测定中所使用的试剂的相关信息;其中,
所述控制部件根据所述存储部件中存储的信息,让所述显示部件同时显示所述测定部件测得的精度管理测定的结果和用于检验该精度管理测定中所使用的试剂的状态的试剂信息。
3. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件让所述显示部件显示从所述精度管理测定中所使用的试剂被放置到所述测定部件开始到该试剂用于所述精度管理测定为止所经过的时间,并将该所经过的时间作为用于检验所述精度管理测定中所使用的试剂的状态的试剂信息。
4. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件让所述显示部件显示用于盛放所述精度管理测定中所使用的试剂的试剂容器的识别信息,并将该识别信息作为用于检验所述精度管理测定中所使用的试剂的状态的试剂信息。
5. 根据权利要求4所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件还让所述显示部件显示所述精度管理测定中所使用的试剂的批号,并将该批号作为用于检验所述精度管理测定中所使用的试剂的状态的试剂信息。
6. 根据权利要求1所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件还让所述显示部件显示制作所述精度管理测定中所使用的试剂的试剂制作者,并将该试剂制作者作为用于检验所述精度管理测定中所使用的试剂的状态的试剂信息。
7. 根据权利要求1至6其中任意一项所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件让所述显示部件显示精度管理结果界面,该精度管理结果界面按照时间排序显示以前进行的复数次精度管理测定的各测定结果,并能够指定各个测定结果,当所述精度管理结果界面上显示的测定结果被指定时,所述控制部件让所述显示部件显示以下试剂信息:用于检验与所指定的测定结果相应的精度管理测定中所使用的试剂的状态的试剂信息。
8. 根据权利要求1至6其中任意一项所述的样本分析装置,其特征在于:
所述测定部件能够对复数个测定项目进行精度管理测定,
所述控制部件让所述显示部件显示精度管理结果界面,该精度管理结果界面显示对复数个测定项目进行精度管理测定的结果,并能够分别指定各个测定项目,当所述精度管理结果界面上显示的测定项目被指定时,所述控制部件让所述显示部件显示以下试剂信息:用于检验所指定的测定项目的精度管理测定中所使用的试剂的状态的试剂信息。
9. 根据权利要求7所述的样本分析装置,其特征在于:
当在所述精度管理结果界面中收到预定的指示后,所述控制部件在所述显示部件显示与所述试剂信息相应的精度管理测定中所使用的校准曲线的相关信息。
10. 根据权利要求9所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件让所述显示部件显示为绘制所述校准曲线而进行的测定中所使用的试剂的相关信息,并将该信息作为所述校准曲线的相关信息。
11. 根据权利要求1至6其中任意一项所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件还让所述显示部件显示将所述精度管理测定中所使用的试剂放置到所述测定部件的放置者。
12. 根据权利要求1至6其中任意一项所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件还让所述显示部件显示向该样本分析装置下达所述精度管理测定的指示的测定者。
13. 根据权利要求1至6其中任意一项所述的样本分析装置,其特征在于:
所述控制部件还让所述显示部件显示用于检验所述精度管理测定中所使用的精度管理试样的状态的信息。
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