[发明专利]一种在FTO 基板表面制备Bi2Ti2O7介电陶瓷薄膜的方法无效
申请号: | 201210235752.7 | 申请日: | 2012-07-09 |
公开(公告)号: | CN102795853A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 夏傲;谈国强;尹君 | 申请(专利权)人: | 陕西科技大学 |
主分类号: | C04B35/475 | 分类号: | C04B35/475;C04B35/622 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 田洲 |
地址: | 710021 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 fto 表面 制备 bi sub ti 陶瓷 薄膜 方法 | ||
1.一种在FTO基板表面制备Bi2Ti2O7介电陶瓷薄膜的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:基片的功能化:将FTO基片清洗干净并于紫外光下照射后于OTS和甲苯的混合溶液中沉积30s~20min以获得OTS单层膜,随后烘烤以除去表面残留溶液,再于紫外光下照射40~60min实现基片表面功能化;
步骤2:前驱液的配制:首先将Bi(NO3)3·5H2O溶于乙二醇甲醚中,然后向溶液中加入Ti(OC4H9)4和柠檬酸,搅拌至澄清,加入冰醋酸作为稳定剂,保持溶液中Bi3+和Ti4+的总浓度为0.02mol/L~0.04mo l/L;其中Bi、Ti摩尔比值为1.0,柠檬酸的物质的量为Bi和Ti的物质量之和;
步骤3:液相法沉积薄膜过程:将附着OTS单层膜的FTO基片置于配制好的前驱液中,在50℃~70℃下沉积10h~20h获得非晶态薄膜;
步骤4:薄膜的晶化处理:将干燥后的非晶态薄膜先经紫外线照射,然后放入马弗炉,在560℃保温10min~60min以得到晶态Bi2Ti2O7薄膜。
2.根据权利要求1所述的一种在FTO基板表面制备Bi2Ti2O7介电陶瓷薄膜的方法,其特征在于,所述在FTO基板表面制备Bi2Ti2O7介电陶瓷薄膜的方法还包括:
步骤5:多层膜的沉积:将步骤4晶化后的Bi2Ti2O7薄膜经紫外线照射后,再次置于步骤2配置的前驱液中,重复步骤3~步骤4若干次,从而获得多层晶态Bi2Ti2O7薄膜。
3.根据权利要求1所述的一种在FTO基板表面制备Bi2Ti2O7介电陶瓷薄膜的方法,其特征在于,步骤1中清洗的方法为将FTO基片先后分别用洗涤剂水溶液、无水乙醇和丙酮超声波洗涤10分钟。
4.根据权利要求1所述的一种在FTO基板表面制备Bi2Ti2O7介电陶瓷薄膜的方法,其特征在于,十八烷基三氯硅烷和甲苯的体积比为1:99
5.根据权利要求1所述的一种在FTO基板表面制备Bi2Ti2O7介电陶瓷薄膜的方法,其特征在于,步骤1中于120℃烘烤以除去表面残留溶液。
6.根据权利要求1所述的一种在FTO基板表面制备Bi2Ti2O7介电陶瓷薄膜的方法,其特征在于,步骤2中配置好前驱液后进行抽真空处理;步骤3中将附着OTS单层膜的FTO基片置于配制好的经过抽真空处理的前驱液中沉积非晶态薄膜。
7.根据权利要求6所述的一种在FTO基板表面制备Bi2Ti2O7介电陶瓷薄膜的方法,其特征在于,抽真空处理的步骤为将配置好的前驱液连同烧杯放入真空箱中进行真空处理,开启真空泵,真空压力调节为-0.2Kg/cm2,抽真空时间为30-40mins。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陕西科技大学,未经陕西科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210235752.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种低品位微细粒级嵌布难选铁矿的选矿工艺
- 下一篇:制备聚碳酸酯的方法