[发明专利]检测装置、检测方法以及图像形成装置有效
申请号: | 201210236193.1 | 申请日: | 2012-07-06 |
公开(公告)号: | CN103105765A | 公开(公告)日: | 2013-05-15 |
发明(设计)人: | 山口善郎 | 申请(专利权)人: | 富士施乐株式会社 |
主分类号: | G03G21/00 | 分类号: | G03G21/00;G03G15/00;G03G15/16 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 顾红霞;何胜勇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 方法 以及 图像 形成 | ||
技术领域
本发明涉及检测装置、检测方法以及图像形成装置。
背景技术
已知如下技术:该技术用于检测图像形成装置的状态或用于图像形成的介质的状态,以便执行高精度图像形成。例如,日本未审查的专利申请公开No.2000-009451公开了使用图像传感器来对感光鼓发生跳动做判断的技术。日本未审查的专利申请公开No.2006-259637和No.2007-192999公开了使用光学传感器来检测转印带的松弛以及校正转印带的状态的技术。日本未审查的专利申请公开No.2005-257847公开了使用发光二极管(LED)和光电二极管来检测转印部件的粗糙度以及控制色调剂量的技术。
发明内容
本发明的目的是对保持部件的第一方向上的翘曲进行检测。
根据本发明的第一方面,提供一种检测装置,包括:第一测量单元,其从二值图像中测量具有第一灰度值的第一区域的浓度水平和具有第二灰度值的第二区域的浓度水平,所述第一区域与所述第二区域沿所述二值图像的第一方向交替排列,所述二值图像设置在保持部件的第二表面上,所述保持部件包括第一表面和设置成与所述第一表面相反的所述第二表面;存储单元,在所述存储单元中存储有如下信息:所述信息表示从所述第一测量单元到所述第二表面的距离与设置成彼此相邻的所述第一区域与所述第二区域之间的对比度的关系,所述对比度是由所述第一测量单元测量所述浓度水平而得到的;计算器,其利用所述第一测量单元测量出的所述第一区域的浓度水平和所述第二区域的浓度水平,来计算设置成彼此相邻的所述第一区域与所述第二区域之间的对比度;以及检测器,其利用存储在所述存储单元中的所述信息来指定与所述计算器计算出的对比度相对应的距离,并且通过将所指定的距离作为从所述第二表面到设置成彼此相邻的所述第一区域和所述第二区域的距离来检测所述保持部件的所述第一方向上的翘曲。
根据本发明的第二方面,在根据第一方面的检测装置中,所述第一测量单元可以设置在使所述第一测量单元与所述第二表面之间的距离大于焦距的位置。所述检测器可以使用如下范围来指定所述距离:在所述范围内,所述距离从等于所述焦距的值开始增大,存储在所述存储单元中的所述信息包括所述范围。
根据本发明的第三方面,在根据第一方面或第二方面的检测装置中,可以在所述保持部件的所述第一表面上形成包括预定浓度分布的测试图。所述检测装置还包括:第二测量单元,其测量所述测试图的浓度;第一校正单元,其根据由所述检测器检测到的翘曲的状态对由距离变化导致的误差进行校正,由所述第二测量单元测量出的测试图的浓度分布中含有所述距离变化;以及第二校正单元,其根据已由所述第一校正单元校正的所述测试图的浓度分布对待由图像形成单元形成的图像的浓度进行校正。
根据本发明的第四方面,在根据第一方面的检测装置中,所述第一测量单元可以包括:光发射元件,其用光照射所述第二表面;以及光接收元件,其接收被所述第二表面反射的光;并且所述第一测量单元可以利用由所述光接收元件接收到的光量来测量所述浓度水平。所述存储单元可以存储设置成彼此相邻的所述第一区域与所述第二区域之间的如下对比度作为基准对比度:当所述保持部件的所述第一方向上的翘曲等于或小于阈值时由所述第一测量单元测量所述浓度水平而得到的对比度;并且所述存储单元存储由所述光接收元件接收到的如下光量作为基准光量:当所述保持部件的所述第一方向上的翘曲等于或小于所述阈值时所述光量被所述第一测量单元用来测量所述浓度水平。当计算出的对比度高于所述基准对比度并且由所述光接收元件接收到的光量大于所述基准光量时,所述检测器可以使用如下范围来指定所述距离:在所述范围内,所述距离从等于所述第一测量单元的焦距的值开始增大,存储在所述存储单元中的所述信息包括所述范围。当计算出的对比度高于所述基准对比度并且由所述光接收元件接收到的光量小于所述基准光量时,所述检测器可以使用如下范围来指定所述距离:在所述范围内,所述距离从等于所述第一测量单元的焦距的值开始减小,存储在所述存储单元中的所述信息包括所述范围。
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