[发明专利]位置检测传感器、位置检测装置以及位置检测方法

权利要求书

1.一种静电电容方式的位置检测传感器，具有沿着第1方向配置的多个第1导体和沿着与上述第1方向交差的方向配置的多个第2导体，通过检测与指示体所进行的位置的指示对应而在上述第1导体与上述第2导体之间形成的静电电容的变化，从而检测由上述指示体指示的位置，上述静电电容方式的位置检测传感器的特征在于，

上述多个第1导体具有可挠性，

在上述多个第1导体与上述多个第2导体之间介入具有可挠性的电介质部件，并且上述具有可挠性的电介质部件的一方的面与上述多个第1导体或上述多个第2导体抵接，

与上述具有可挠性的电介质部件的一方的面抵接的上述多个第1导体或上述多个第2导体经由上述具有可挠性的电介质部件而相对的上述多个第2导体或上述多个第1导体，与上述具有可挠性的电介质部件的另一方的面之间，通过间隔物相互分离预定的距离，

通过上述多个第1导体对应于上述指示体所进行的位置的指示而被按压，使上述具有可挠性的电介质部件的上述另一方的面与相对于上述另一方的面的上述多个第2导体或上述多个第1导体之间的抵接面积变化，由此引起上述多个第1导体与上述多个第2导体之间的上述静电电容的变化，上述多个第1导体与上述多个第2导体中间介入了上述具有可挠性的电介质部件。

2.如权利要求1所述的静电电容方式的位置检测传感器，其特征在于，

上述具有可挠性的电介质部件的一方的面与上述多个第1导体抵接，并且上述具有可挠性的电介质部件的另一方的面与上述多个第2导体通过上述间隔物而相互分离预定的距离。

3.如权利要求1所述的静电电容方式的位置检测传感器，其特征在于，

上述具有可挠性的电介质部件与上述多个第1导体抵接而配置，并且另一个电介质部件与上述多个第2导体抵接而配置，通过上述多个第1导体对应于上述指示体所进行的位置的指示而被按压，使上述具有可挠性的电介质部件与上述另一个电介质部件之间的抵接面积变化，由此引起上述多个第1导体与上述多个第2导体之间的上述静电电容的变化，上述多个第1导体与上述多个第2导体中间介入了上述具有可挠性的电介质部件和上述另一个电介质部件。

4.如权利要求1所述的静电电容方式的位置检测传感器，其特征在于，具有配置有上述多个第1导体的第1基板和配置有上述多个第2导体的第2基板，上述第1基板具有可挠性。

5.如权利要求4所述的静电电容方式的位置检测传感器，其特征在于，上述间隔物配置于上述多个第1导体以及上述多个第2导体中的至少一方的多个导体的导体间区域，上述多个第1导体配置于上述第1基板，上述多个第2导体配置于上述第2基板。

6.如权利要求5所述的静电电容方式的位置检测传感器，其特征在于，上述间隔物具有预定的突起形状而分散配置在上述第2基板上。

7.如权利要求1所述的静电电容方式的位置检测传感器，其特征在于，上述间隔物具有片状的形态，并且具有形成有微细的凹凸的表面状态。

8.如权利要求1所述的静电电容方式的位置检测传感器，其特征在于，上述电介质部件具有膜状的形态。

9.如权利要求1所述的静电电容方式的位置检测传感器，其特征在于，上述电介质部件固定于沿着上述第1方向配置的上述多个第1导体以及沿着与上述第1方向交差的方向配置的上述多个第2导体中的至少一方的多个导体。

10.如权利要求9所述的静电电容方式的位置检测传感器，其特征在于，上述电介质部件的固定通过涂布或印刷来进行。

11.如权利要求1所述的静电电容方式的位置检测传感器，其特征在于，上述多个第1导体、上述多个第2导体以及上述电介质部件分别具有透光性。

12.如权利要求1所述的静电电容方式的位置检测传感器，其特征在于，上述电介质部件由玻璃原料或树脂原料构成，并且与上述多个第1导体抵接，具有预定的厚度，以根据与上述指示体所进行的位置的指示对应的按压而具有可挠性。