[发明专利]一种监测目标物体缺陷的方法及设备

权利要求书

1.一种监测目标物体缺陷的方法，其特征在于，所述方法包括：

采集待检测目标物体的图像；

对所述待检测目标物体进行着色处理；

根据设定的聚类中心确定包含所述待检测目标物体的图像中属于每个聚类中心的像素点，其中属于同一个聚类中心的像素点组成该聚类中心的隶属区域；

根据属于同一个隶属区域的像素点确定该隶属区域对应的特征数据；

根据每个隶属区域对应的特征数据及该特征数据对应的阈值，确定所述隶属区域是否为所述待检测目标物体的缺陷区域。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定属于每个聚类中心的像素点，包括：

确定所述图像中的像素点与所述聚类中心的隶属度矩阵；

根据预设的模糊度系数和所述隶属度矩阵，确定目标函数矩阵；

根据目标函数矩阵，确定每个聚类中心对应的每个像素点的筛选值；

针对一个聚类中心，根据该聚类中心对应的每个像素点的筛选值，确定属于该聚类中心的隶属区域中的像素点。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，确定目标函数矩阵，包括：

根据预设的模糊度系数对所述隶属度矩阵进行修正处理，得到修正隶属度矩阵；

根据所述修正隶属度矩阵确定所述图像的目标函数矩阵。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据下列公式确定所述修正隶属度矩阵中的元素值：

其中，u_ij为修正隶属度矩阵中的元素值；α为模糊度系数，0≤α≤1；为所述图像的隶属度矩阵，i＝1,2,…,c，j＝1,2,…,n；i₀＝1,2,…,c，j₀＝1,2,…,n；其中n为所述图像的像素点的数目，c为聚类中心的数目。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据下列公式确定每个聚类中心对应的每个像素点的筛选值：

wi1,j1=Σi=1i1[(μij)m×j×J(i,j)]Σi=1i1(μij)m;]]>

其中，为每个像素点对应的筛选值；{μ_ij}为经过归一化处理后的修正隶属度矩阵；i₁＝1,2,…,c，j₁＝1,2,…,n；i＝1,2,…,c，j＝1,2,…,n；其中n为所述图像的像素点的数目，c为聚类中心的数目；J(i,j)为目标函数矩阵；m为模糊加权指数，m∈[1,∞)。