[发明专利]一种用于线切割机床连线测试的系统

说明书

技术领域

本发明属于测试仪器技术领域，尤其涉及一种用于线切割机床连线测试的系统。

背景技术

对于专业生产线切割数控控制台的厂家而言，控制台与机床的连接线测试比较繁琐，一是因为与之配套的机床厂家各有各的接口定义，接线人员容易接错；二是因为连线测量一般都是用万用表测通断，如果线与线之间有短路，那就测不出来。

发明内容

本发明提供了一种用于线切割机床连线测试的系统，旨在解决控制台与机床的连接线测试比较繁琐，连接接口定义多样，接线人员容易接错，连线测量一般都是用万用表测通断，如果线与线之间有短路，不能测试出故障的问题。

本发明的目的在于提供一种用于线切割机床连线测试的系统，该系统包括：

信号输出模块，用于向线切割机床输出测试信号；

信号输入模块，用于采集被测试的线切割机床输出的反馈信号；

信号处理模块，与所述信号输出模块及信号输入模块相连接，用于输出测试信号至所述信号输出模块，并接收所述信号输入模块采集的反馈信号，对测试信号、反馈信号进行对比，同时根据测试信号、反馈信号的对比结果输出相应的测试结果指示信号；

测试结果指示模块，与所述信号处理模块相连接，用于接收所述信号处理模块输出的测试结果指示信号，并根据测试结果指示信号对线切割机床测试结果进行显示。

进一步，所述信号处理模块采用的是型号为STC89C51的单片机(U1)；所述信号输出模块由型号为74HC573的锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)连接构成；所述信号输入模块由型号为74HC245的三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)、三态总线驱动器(U9)连接构成。

进一步，所述单片机(U1)的端口P3.0-P3.3分别与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)的锁存端口相连接，所述单片机(U1)的端口P3.4-P3.7分别与所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的片选端口相连接。

进一步，所述单片机(U1)的8位数据输出端口P0与锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)、锁存器(U5)的数据口相连接，所述锁存器(U2)、锁存器(U3)、锁存器(U4)及锁存器(U5)分别与P34芯双排插座J1相连接。

进一步，所述单片机(U1)的8位数据输出端口P2口的8位总线分别与所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口A相连接，所述三态总线驱动器(U6)、三态总线驱动器(U7)、三态总线驱动器(U8)及三态总线驱动器(U9)的8位数据端口B与P34芯双排插座J2相连接。

进一步，所述锁存器(U2)输出端信号的定义为：XA XB XC XD XE和UA UB UC；

所述锁存器(U3)输出端信号的定义为：YA YB YC YD YE和VA VB VC；

所述锁存器(U4)输出端信号的定义为：取样+、取样-、工件、钼丝、开高频1、开高频2、+24V X轴、+24V U轴；

所述锁存器(U5)输出端信号的定义为：+24V Y轴、+24V V轴、停机1、停机2。

进一步，所述三态总线驱动器(U6)的8位数据端口B的信号定义为：XA XB XC XD XE和UA UB UC；

所述三态总线驱动器(U7)的8位数据端口B的信号定义为：YA YB YC YD YE和VA VB VC

所述三态总线驱动器(U8)的8位数据端口B的信号定义为：取样+、取样-、工件、钼丝、开高频1、开高频2、+24V X轴、+24V U轴；

所述三态总线驱动器(U9)的8位数据端口B的信号定义为：+24V Y轴、+24V V轴、停机1、停机2。

进一步，所述测试结果指示模块包括：电阻R1、发光二极管L1、发光二极管L2、电阻R2、电阻R3、发光二极管L3、发光二极管L4、电阻R4、电阻R5、发光二极管L5、发光二极管L6、电阻R6、电阻R7、发光二极管L7、发光二极管L8、电阻R8、电阻R9、发光二极管L9、发光二极管L10、电阻R10、电阻R11、发光二极管L11、发光二极管L12、电阻R12、电阻R13、发光二极管L13、发光二极管L14、电阻R14、电阻R15、发光二极管L15、发光二极管L16、电阻R16；