[发明专利]一种激光器光源波长校准方法及系统有效
申请号: | 201210239511.X | 申请日: | 2012-07-11 |
公开(公告)号: | CN102751658A | 公开(公告)日: | 2012-10-24 |
发明(设计)人: | 邱妮;苗玉龙;徐瑞林;张继菊;姚强 | 申请(专利权)人: | 重庆市电力公司电力科学研究院 |
主分类号: | H01S5/0683 | 分类号: | H01S5/0683;G01N21/39 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 401123 重*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光器 光源 波长 校准 方法 系统 | ||
1.一种激光器光源波长的校准方法,其特征在于,该方法包括:
接收激光器发出包含有入射光强信息的入射激光信号;
所述入射激光信号经第一透射窗片进入气体室中,预设于所述气体室内的预设浓度的标准气体吸收所述入射激光信号的能量,得到能量变化后的透射激光信号,所述透射激光信号经第二透射窗片发射给第一传感器;
所述第一传感器接收所述透射激光信号,并将其转化成包含有所述透射激光信号出射光强信息的第一电信号;
第一处理器通过所述第一电信号中的出射光强信息,获取所述标准气体对应的吸收峰位置,确定与所述吸收峰位置对应的中心波长,以所述中心波长为基准,校准所述激光器的波长。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述校准激光器的波长,包括:
通过调节激光器的受驱动电流和自身温度来校准所述激光器的波长。
3.一种气体浓度测量的方法,其特征在于,包括:
将激光器的波长按照如权利要求1所述步骤进行校准;
接收所述校准波长后的激光器发出包含有入射光强的入射激光信号,并将其通过待测标准气体模块;
所述待测标准气体模块吸收所述校准波长后的激光信号的能量,得到能量变化后的校准波长的透射激光信号,将所述校准波长的透射激光信号发射给第二传感器;
所述第二传感器接收所述校准波长的透射激光信号,并将其转化成包含有所述校准波长的透射激光信号出射光强信息的第二电信号;
第二处理器依据所述第二电信号中的出射光强信息,获取所述待测标准气体对应的吸收峰位置,通过计算得到入射光强信息;
并获得所述吸收峰位置上所述校准波长后的激光信号的入射光强和校准波长后的透射激光信号的出射光强的比值,依据所述比值计算得到所述待测标准气体的浓度值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述计算得到所述待测标准气体的浓度值后,还包括:
判断所述待测标准气体的浓度值是否符合预设浓度值,如果是,则不进行校准,如果否,则进行校准。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述校准浓度值的过程,包括:
获取由校准波长后的激光器通过所述气体室得到的第一光程长度值和第一气体压强值;
获取与所述待测标准气体模块分别对应的第二光程长度值和第二气体压强值;
通过调节第一气体压强值和第二气体压强值以及第一光程长度值和第二光程长度值来实现对待测标准气体的浓度的校准。
6.一种激光器光源波长的校准系统,其特征在于,所述系统包括:激光器、封装有预设浓度的标准气体的气体室、第一透射窗片、第二透射窗片、第一传感器和第一处理器;
所述激光器用于发出包含有入射光强信息的入射激光信号,并将所述入射激光信号通过所述第一透射窗片;
所述封装有预设浓度的标准气体的气体室用于吸收所述入射激光信号的能量,得到能量变化后的透射激光信号,所述透射激光信号经第二透射窗片发射给所述第一传感器;
所述第一传感器用于依据所述透射激光信号,并将所述透射激光信号转化成包含有所述透射激光信号出射光强信息的第一电信号;
所述第一处理器用于通过所述第一电信号中的出射光强信息,获取所述标准气体对应的吸收峰位置,确定与所述吸收峰位置对应的中心波长,以所述中心波长为基准,校准所述激光器的波长。
7.一种气体浓度测量系统,其特征在于,包括:如权利要求6所述系统校准后的激光器、待测标准气体模块、第二传感器和第二处理器;
所述校准波长后的激光器用于发出包含有入射光强的激光信号,并将所述激光信号通过待测标准气体模块;
所述待测标准气体模块用于吸收所述校准波长后的激光信号的能量,得到能量变化后的校准波长的透射激光信号,将所述校准波长的透射激光信号发射给所述第二传感器;
所述第二传感器用于依据接收所述校准波长的透射激光信号,并将其转化为包含有所述校准波长的透射激光信号出射光强信息的第二电信号;
所述第二处理器用于依据所述第二电信号中的出射光强信息,获取所述待测标准气体对应的吸收峰位置,通过计算得到入射光强信息,并获得所述吸收峰位置上所述校准波长后的激光信号的入射光强和校准波长后的透射激光信号的出射光强的比值,计算得到所述待测标准气体的浓度值。
8.根据权利要求7所述的系统,所述系统还包括:第三处理器;
所述第三处理器用于通过调节获取的由校准波长后的激光器通过所述气室得到的第一光程长度值和第一气体压强和由校准波长后的激光器通过所述待测标准气体模块得到的第二光程长度值和第二气体压强,来实现对所述待测标准气体的浓度值的校准。
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