[发明专利]一种高可靠性的应用于SMD发光二极管的焊线装置无效

专利信息
申请号: 201210239626.9 申请日: 2012-07-10
公开(公告)号: CN103545435A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 任瑞奇;王鹏辉;程志坚 申请(专利权)人: 深圳市斯迈得光电子有限公司
主分类号: H01L33/62 分类号: H01L33/62
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市宝安区石*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 可靠性 应用于 smd 发光二极管 线装
【说明书】:

技术领域:

发明涉及一种焊线装置,具体涉及一种高可靠性的应用于SMD发光二极管的焊线装置。

背景技术:

SMD发光二极管是一种新型表面贴装式半导体发光器件,具有体积小、散射角大、发光均匀性好、可靠性高、低功耗、响应速度快等优点。SMD发光二极管的封装技术一般是通过金丝压焊工艺,采用金属导线将芯片和电极焊板连接,完成电气的导通。金丝压焊工艺一般分为BSOB和BBOS两种方式,BSOB焊线方式采用的是将导线压焊在金球上,BBOS焊线方式采用的是将金球压焊于导线上。现有的焊线装置虽然能完成芯片和电极焊板之间的连接,起到电气导通的作用,但是当发光二极管在使用的过程中,芯片产生大量的热量,封装材料受热膨胀,产生的内部应力作用在导线上,导线受力后,容易造成导线与金球脱离,电气连接断开,而发生二极管死灯的现象;且由于金球和焊板为不同材质,热膨胀率不一致,也容易造成金球和焊板脱离,电气连接断开,而发生二极管死灯的现象。

发明内容:

本发明的目的是提供一种高可靠性的应用于SMD发光二极管的焊线装置,它能克服现有技术的弊端,保证芯片电极和焊板之间的完整的电气连接,不会发生发光二极管死灯的现象,可靠性高。

为了解决背景技术所存在的问题,本发明是采用以下技术方案:它包括封装支架1,封装支架1包括基座2和电极焊板3,电极焊板3分为正电极焊板3-1和负电极焊板3-2,基座2上设置有腔体4,芯片5设置在腔体4内部,芯片5上的电极5-1通过第一导线7和设置在电极焊板3上的金球8连接,第二导线9一端和第一导线7相连压焊在金球8上,第二导线9的另一端与电极焊板3连接,在腔体4内部的芯片5上方设置有封装材料6。

本发明在发光二极管工作时,芯片5产生的热量使封装材料6受热膨胀,封装材料6产生的内部应力使第一导线7与金球8脱离,但是由于采用了第二导线9将第一导线7与电极焊板3连接起来,依然能够保持芯片5上的电极5-1和电极焊板3之间完整的电气连接,不会发生发光二极管死灯的现象;且即使因为金球8和电极焊板3为不同材质,热膨胀率不一致而导致金球8和电极焊板3脱离,也依然能够保持芯片5上的电极5-1和电极焊板3之间的完整的电气连接,不会发生发光二极管死灯的现象。

本具体实施方式结构简单,设计合理,它能有效克服现有技术的弊端,保证芯片电极和焊板之间的完整的电气连接,不会发生发光二极管死灯的现象,从而大大地增加了发光二极管的可靠性。

附图说明:

图1是本发明的结构示意图;

图2是图1的局部放大图。

具体实施方式:

参看图1、图2,本具体实施方式采用以下技术方案:它包括封装支架1,封装支架1包括基座2和电极焊板3,电极焊板3分为正电极焊板3-1和负电极焊板3-2,基座2上设置有腔体4,芯片5设置在腔体4内部,芯片5上的电极5-1通过第一导线7和设置在电极焊板3上的金球8连接,第二导线9一端和第一导线7相连压焊在金球8上,第二导线9的另一端与电极焊板3连接,在腔体4内部的芯片5上方设置有封装材料6。

本具体实施方式在发光二极管工作时,芯片5产生的热量使封装材料6受热膨胀,封装材料6产生的内部应力使第一导线7与金球8脱离,但是由于采用了第二导线9将第一导线7与电极焊板3连接起来,依然能够保持芯片5上的电极5-1和电极焊板3之间完整的电气连接,不会发生发光二极管死灯的现象;且即使因为金球8和电极焊板3为不同材质,热膨胀率不一致而导致金球8和电极焊板3脱离,也依然能够保持芯片5上的电极5-1和电极焊板3之间的完整的电气连接,不会发生发光二极管死灯的现象。

本具体实施方式结构简单,设计合理,它能有效克服现有技术的弊端,保证芯片电极和焊板之间的完整的电气连接,不会发生发光二极管死灯的现象,从而大大地增加了发光二极管的可靠性。

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