[发明专利]用于静电保护的高压NLDMOS结构有效
申请号: | 201210240391.5 | 申请日: | 2012-07-12 |
公开(公告)号: | CN103545365A | 公开(公告)日: | 2014-01-29 |
发明(设计)人: | 苏庆;苗彬彬;王邦磷;邓樟鹏 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/06;H01L29/36 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 张骥 |
地址: | 201206 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 静电 保护 高压 nldmos 结构 | ||
1.一种用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:包括一N型LDMOS,形成于一硅衬底上方的N型埋层内;N型LDMOS排列成多指状结构;位于两个漏区之间的源区为共源区;
所述漏区的有源区内由N型有源区与P型有源区沿长度方向相间排布;
所述共源区内插入P型有源区,P型有源区嵌入在N型有源区内,P型有源区将源区内的N型有源区分别隔开;P型有源区与N型有源区沿长度方向相间排布;
所有的漏极共连接ESD进入端,所有的源极共连接地,所有的栅极共连接信号端。
2.根据权利要求1所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述共源区内的P型有源区的宽度在0.3~100um之间。
3.根据权利要求1或2所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述漏区包括形成于N型埋层中的高压N阱,高压N阱内形成有N-注入区,N-注入区内形成有所述N型有源区,N型有源区内间隔排布有所述P型有源区;N型有源区沿宽度方向上能够完全包围住P型有源区。
4.根据权利要求1或2所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述共源区包括形成于N型埋层中的高压P阱,高压P阱内形成有所述N型有源区,N型有源区内间隔排布有所述P型有源区;P型有源区沿宽度方向上能够完全包围住N型有源区。
5.根据权利要求1所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述源区为N+有源区。
6.根据权利要求1所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述N型有源区为N+注入区;所述P型有源区为P+注入区。
7.根据权利要求1所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述N型LDMOS的最外侧是漏区。
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