[发明专利]用于静电保护的高压NLDMOS结构有效

专利信息
申请号: 201210240391.5 申请日: 2012-07-12
公开(公告)号: CN103545365A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 苏庆;苗彬彬;王邦磷;邓樟鹏 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06;H01L29/36
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 张骥
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 用于 静电 保护 高压 nldmos 结构
【权利要求书】:

1.一种用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:包括一N型LDMOS,形成于一硅衬底上方的N型埋层内;N型LDMOS排列成多指状结构;位于两个漏区之间的源区为共源区;

所述漏区的有源区内由N型有源区与P型有源区沿长度方向相间排布;

所述共源区内插入P型有源区,P型有源区嵌入在N型有源区内,P型有源区将源区内的N型有源区分别隔开;P型有源区与N型有源区沿长度方向相间排布;

所有的漏极共连接ESD进入端,所有的源极共连接地,所有的栅极共连接信号端。

2.根据权利要求1所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述共源区内的P型有源区的宽度在0.3~100um之间。

3.根据权利要求1或2所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述漏区包括形成于N型埋层中的高压N阱,高压N阱内形成有N-注入区,N-注入区内形成有所述N型有源区,N型有源区内间隔排布有所述P型有源区;N型有源区沿宽度方向上能够完全包围住P型有源区。

4.根据权利要求1或2所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述共源区包括形成于N型埋层中的高压P阱,高压P阱内形成有所述N型有源区,N型有源区内间隔排布有所述P型有源区;P型有源区沿宽度方向上能够完全包围住N型有源区。

5.根据权利要求1所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述源区为N+有源区。

6.根据权利要求1所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述N型有源区为N+注入区;所述P型有源区为P+注入区。

7.根据权利要求1所述的用于静电保护的高压NLDMOS结构,其特征在于:所述N型LDMOS的最外侧是漏区。

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