[发明专利]包含具有基本正方形面的磁体的角度测量系统

权利要求书

1.一种角度测量系统，包括：

轴，沿着轴线延伸并且被配置为围绕轴线轴向旋转；

磁体，包含每个为基本正方形的第一和第二表面，其中第一和第二表面分别包含第一和第二孔，并且其中第一和第二孔限定该轴延伸通过的磁体中的通孔的范围。

2.如权利要求1的角度测量系统，其中第一和第二表面是具有圆角的正方形表面。

3.如权利要求2的角度测量系统，进一步包括：

角度传感器，被配置为在轴旋转时测量由磁体产生的时变磁场以确定轴的旋转角度。

4.如权利要求3的角度测量系统，其中该角度传感器被固定于与轴线隔开的位置。

5.如权利要求2的角度测量系统，其中第一表面具有围绕该轴线横向设置的周界，该周界包括：

以第一距离与轴线隔开的第一边缘；

垂直于第一边缘并且以第一距离与轴线隔开的第二边缘；

在第一边缘和第二边缘之间并且以比第一距离更大的第二距离与轴线隔开的圆形段。

6.如权利要求5的角度测量系统，其中第一边缘和第二边缘在延伸的情况下将在第一表面之外的交点处相遇，并且其中该交点与轴线以比第二距离更大的第三距离隔开。

7.如权利要求6的角度测量系统，其中第二距离近似为第一距离加上第三距离的和的一半。

8.如权利要求1的角度测量系统，进一步包括：

角度传感器，被配置为在轴旋转时测量由磁体产生的时变磁场从而确定该轴的旋转角度。

9.如权利要求8的角度测量系统，其中该角度传感器被固定于与磁体的中心轴线隔开的位置。

10.如权利要求8的角度测量系统，其中该角度传感器包含位于接近轴的磁体内周界和磁体外周界之间的磁体的第一表面上的感测区域。

11.如权利要求8的角度测量系统，其中该角度传感器包括：

半导体芯片，包含被布置为确定磁场方向性的磁阻阻性传感器布置。

12.如权利要求11的角度测量传感器，其中该半导体芯片包括一对彼此正交布置的MR传感器电桥。

13.如权利要求8的角度测量系统，其中该角度传感器包括：

超薄的导电、非铁磁层；以及

一对铁磁层，夹在该导电、非铁磁层的相对侧周围。

14.一种系统，包括：

轴，沿着轴线延伸；

磁体，具有基本正方形的具有圆角的相对表面，其中该磁体包含中心孔，该轴通过该中心孔并且该磁体通过该中心孔被安装到该轴。

15.如权利要求14的系统，进一步包括：

角度传感器，被定位成通过在轴旋转时测量由磁体产生的时变磁场来确定轴的旋转角度。

16.如权利要求14的系统，其中该轴适于围绕轴线旋转通过多于360度的绝对角度。

17.如权利要求14的系统，其中该轴限于围绕轴线旋转360度或者更小。

18.如权利要求15的系统，其中该角度传感器包括：

半导体芯片，包含被布置为协同确定磁场方向性的磁阻阻性(MR)传感器布置。

19.如权利要求18的系统，其中该半导体芯片包括一对彼此正交布置的MR传感器电桥。

20.如权利要求15的系统，其中该角度传感器包括：

超薄的导电、非铁磁层；以及

一对铁磁层，夹在该导电、非铁磁层的相对侧周围。