[发明专利]GaInP/GaAs/Ge/Ge四结太阳能电池及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201210249553.1 申请日: 2012-07-19
公开(公告)号: CN102790119A 公开(公告)日: 2012-11-21
发明(设计)人: 赵勇明;董建荣;李奎龙;孙玉润;于淑珍;杨辉 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L31/0687 分类号: H01L31/0687;H01L31/18
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人: 孙佳胤;翟羽
地址: 215125 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: gainp gaas ge 太阳能电池 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及太阳能电池领域,尤其涉及GaInP/GaAs/Ge/Ge四结太阳能电池及其制备方法。

背景技术

在太阳能电池领域,如何实现对太阳全光谱的充分吸收、提高光生载流子的产生效率和促进电子-空穴分离,一直是提高太阳能电池效率的核心关键问题。目前的太阳能电池结构设计基本上基于以下两种考虑:一是优先考虑晶格匹配而将光电流匹配放在次要的位置。但晶格匹配的电池结构由于其确定的带隙能量,限制了太阳能电池的光电流匹配,使得它不能实现对太阳光的全光谱吸收利用。二是优先考虑多结结构的光电流匹配而采用晶格失配的生长方式,而晶格失配生长的材料由于晶体质量差,难以得到高转化效率的电池。目前研究较多而且技术较为成熟的体系是GaInP/GaAs/Ge三结电池,该材料体系在一个太阳下目前达到的最高转换效率为32-33%。该三结电池中Ge电池覆盖较宽的光谱,其短路电流最大可达到另外两结电池的2倍多,由于受三结电池串联的制约,Ge电池对应的太阳光谱的能量没有被充分转换利用,所以该三结电池的效率还有改进的空间。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是,提供GaInP/GaAs/Ge/Ge四结太阳能电池及其制备方法。

为了解决上述问题,本发明提供了一种GaInP/GaAs/Ge/Ge四结太阳能电池,包括Ge衬底层,以及在所述Ge衬底层上依次设置的第一Ge子电池、第一隧穿结、第二Ge子电池、第二隧穿结、GaAs子电池、第三隧穿结、GaInP子电池和(In)GaAs或Ge的接触层。

所述的GaInP/GaAs/Ge/Ge四结太阳能电池,进一步包括材料为InGaAs的第一缓冲层和InGaAs的第二缓冲层,所述第一缓冲层位于第一Ge子电池和第一隧穿结之间,第二缓冲层位于第一隧穿结和第二Ge子电池之间。

所述第一Ge子电池包含依次按照逐渐远离Ge衬底层方向设置的材料为Ge的第一发射区和Al(Ga)InP的第一窗口层。

所述第一隧穿结、第二隧穿结均包含依次按照逐渐远离Ge衬底层方向设置的材料为AlGaAs或Al(Ga)InP的势垒层、InGaAs的掺杂层、InGaAs的掺杂层以及AlGaAs或Al(Ga)InP的势垒层。

所述第二Ge子电池包含依次按照逐渐远离Ge衬底层方向设置的材料为GaInP的第二背场层、Ge的第二基区、Ge的第二发射区和Al(Ga)InP的第二窗口层。

所述GaAs子电池包含依次按照逐渐远离Ge衬底层方向设置的材料为Al(Ga)InP的第三背场层、GaAs的第三基区、GaAs的第三发射区以及Al(Ga)InP的第三窗口层。

所述第三隧穿结包含依次按照逐渐远离Ge衬底层方向设置的材料为AlGaAs或Al(Ga)InP的势垒层、GaInP的掺杂层、AlGaAs的掺杂层以及材料为AlGaAs或Al(Ga)InP的势垒层。

所述GaInP子电池包含依次按照逐渐远离Ge衬底层方向设置的材料为Al(Ga)InP的第四背场层、GaInP的第四基区、GaInP的第四发射区以及Al(Ga)InP的第四窗口层。

为了解决上述问题,本发明还提供了一种所述的GaInP/GaAs/Ge/Ge四结太阳能电池的制备方法,包括步骤:1)提供一Ge衬底层;2)在Ge衬底层表面生长第一Ge子电池;3)在第一Ge子电池表面生长第一隧穿结;4)在第一隧穿结表面生长第二Ge子电池;5)在第二Ge子电池表面生长第二隧穿结;6)在第二隧穿结表面生长GaAs子电池;7)在GaAs子电池表面生长第三隧穿结;8)在第三隧穿结表面生长GaInP子电池;9)在GaInP子电池表面生长接触层。

所述步骤2)和3)之间进一步包括步骤:在第一Ge子电池和第一隧穿结之间生长第一缓冲层,所述步骤3)与4)之间进一步包括步骤:在第一隧穿结和第二Ge子电池之间生长第二缓冲层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所,未经中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210249553.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top