[发明专利]低信噪比区浅层波阻抗界面静校正方法有效

专利信息
申请号: 201210250398.5 申请日: 2012-07-19
公开(公告)号: CN103576200B 公开(公告)日: 2018-11-16
发明(设计)人: 宁宏晓;王海立;章多荣;马立新;于宝华 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
主分类号: G01V1/36 分类号: G01V1/36
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 汤在彦
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 低信噪 区浅层波 阻抗 界面 校正 方法
【说明书】:

发明是低信噪比区浅层波阻抗界面静校正方法,先利用波阻抗界面的深度信息建立表层模型计算标志层基准面静校正量,解决低频静校正问题;然后在此基础上利用波阻抗界面远偏移距折射波初至信息,计算折射波剩余静校正量,消除大的高频剩余静校正量影响,使波阻抗界面信噪比提高;最后针对波阻抗界面反射波信息,计算反射波剩余静校正量,消除小的高频剩余静校正量影响。本发明充分利用了浅层强波阻抗界面的深度信息、折射信息、反射信息,低频与高频兼顾,可较好地解决了低信噪比地区静校正问题。

技术领域

本发明涉及石油地球物理勘探技术,具体是针对低信噪比区浅层波阻抗界面静校正方法。

背景技术

沙漠、山地等复杂地表区,地表起伏大,结构疏松、表层岩性变化剧烈,低降速带巨厚达几百米以上,地表条件极为复杂。地形高差和低降速带的剧烈变化造成了地表结构严重的不均一性,使得地震波畸变严重、地震反射资料不能准确成像、地下构造发生扭曲,导致静校正问题非常突出,是地震资料处理中的难题。

在地表条件复杂的富油区,随着勘探程度越来越高,对静校正精度提出了更高的要求。从以往静校正处理情况来看,一些成熟的静校正技术(模型法、初至折射法、层析反演法)的应用,为解剖复杂地区构造特征,打开复杂区油气勘探局面发挥了一定的作用。但是,复杂地表低信噪比区静校正工作也还存在一些问题,主要表现在以下方面:1、表层巨厚和多变,无法找到稳定的高速顶界面,使得表层模型难以准确建立,基准面静校正精度不高。2、低信噪比与静校正问题相互制约,使得静校正应用效果的监控特别困难。3、反射信息信噪比低,无法充分发挥室内剩余静校正的优势。这些存在的问题使常规静校正方法无法有效满足低信噪比区地震资料处理的需要。

另外,上述常规的静校正方法只采用了地震资料的部分信息,如初至、表层调查等,远偏移距的信息没有有效利用。从静校正技术需求上讲,需要一个相对稳定、有一定信噪比的界面,满足建模与静校正效果监控的要求,以及室内剩余静校正优势的发挥。

发明内容

本发明针对现有技术存在的问题,提供一种基准面静校正精度高,静校正应用效果可以监视,反射信息信噪比高的低信噪比区浅层波阻抗界面静校正方法。

本发明通过以下步骤实现:

1)对探区进行表层调查和地震勘探,或利用已取得的探区域地震叠加剖面,表层调查信息资料,确定浅层存在强波阻抗界面;

2)应用初至层析反演出近地表速度场,标定浅层波阻抗界面在层析反演速度场上对应的速度界面,建立近地表模型;

3)将浅层波阻抗界面作为地下模型界面计算基准面静校正,消除由于近地表起伏和低、降速带引起的中、长波长静校正量,校正后的地震记录中以中、短波长静校正量为主;

基准面静校正量计算采用以下公式:

式中:td为炮点或检波点基准面静校正量;Helv为地表高程;hbzc为浅层波阻抗界面高程,Hd最终基准面高程;v0为波阻抗界面以上平均速度;v为填充速度;

4)利用基准面校正后得到浅层波阻抗界面的折射初至信息计算折射波剩余静校正,使波阻抗界面在地震剖面上信噪比提高到可以统计计算反射波剩余校正量;

5)利用波阻抗界面反射波信息计算各炮点和检波点的反射波剩余静校正量,消除残留的短波长静校正量。

本发明充分利用了浅层强波阻抗界面的深度信息、折射信息、反射信息,低频与高频兼顾,较好地解决了低信噪比地区静校正问题,消除大的高频剩余静校正量影响,使剖面上波阻抗界面信噪比提高,针对波阻抗界面反射波信息,计算反射波剩余静校正量,可消除小的高频剩余静校正量影响。

附图说明

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