[发明专利]一种用于龙芯服务器主板的内存电压的测试方法

权利要求书

1.一种用于龙芯服务器主板的内存电压的测试方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：

测试前

（1）将至少一个的内存电源转接卡插入龙芯服务器主板；

（2）将相邻的两个所述内存电源转接卡通过转接卡互联线连接；

（3）将示波器的探头与所述内存电源转接卡连接；

（4）将电子负载仪通过负载线与所述内存电源转接卡连接；

测试中

（5）对所述示波器校准；

（6）所述龙芯服务器主板上电，调节所述电子负载仪电流，对内存电压进行静态电流测试；

（7）调节所述电子负载仪负载大小、频率和电流变化率SR，对内存电压进行动态电流测试；

测试后

（8）所述示波器、所述龙芯服务器主板和所述电子负载仪断电。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述内存电压包括内存电压VDDQ和内存电压VTT。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，步骤（6）中对所述内存电压VDDQ进行静态电流测试包括如下步骤：

（6-1）设定所述电子负载仪的最小电流值，并加载；

（6-2）将所述电子负载仪的电流值从小到大连续调节，直至得到计算的TDC电流值；

（6-3）所述示波器记录电压和纹波大小；

（6-4）继续增大所述电子负载仪电流值，直至所计算得到的PEAK值；

（6-5）减小所述电子负载仪电流值。

4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，步骤（6）中所述内存电压VTT进行静态电流测试包括如下步骤：

（6-a）设定所述电子负载仪的负电流输入端最小电流值，并加载；

（6-b）将所述电子负载仪的电流值从小到大调节；

（6-c）所述示波器记录内存电压（VTT）电压大小和纹波。

5.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，步骤（7）所述动态电流测试包括如下步骤：

（7-1）设定所述电子负载仪的最小频率值和电流变化率SR，并加载；

（7-2）保持所述电流变化率SR不变，将所述电子负载仪的频率值从小到大调节；

（7-3）所述示波器记录电压和纹波大小。

6.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，根据所述服务器主板所配置的内存规格和类型，结合内存厂商提供的内存规格说明书，记录单条内存电压VDDQ所需TDC电流值A1，PEAK电流值A2；记录单条内存电压VTT所需TDC电流值A3，PEAK电流值A4；记录服务器主板CPU内存控制器所需内存电压VDDQ的TDC电流大小A5，PEAK电流值为A6；

设服务器主板配置N条内存条，则测试指标计算公式如下：

TDC=(A1+A3)*N+A5；

PEAK=(A2+A4)*N+A6。

7.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，当所述内存电源转接卡为两个以上时，步骤（3）所述示波器的探头设置两组，分别与最外侧的所述内存电源转接卡连接。

8.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，步骤（3）所述探头为差分探头。

9.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，所述差分探头采用Tektronix P6247。

10.如权利要求3所述的测试方法，其特征在于，步骤（6-1）所述最小电流值为4A；步骤（6-a）所述最小电流值为-2.9A。

11.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，步骤（7-2）中测试所述内存电压VDDQ时，电子负载仪的频率值从1K-10K-50K-100K依次调节；测试所述内存电压VTT时，电子负载仪的频率值从1K-10K-50K-100K-400K依次调节。