[发明专利]信息处理装置和方法、程序和校正荧光光谱的强度的方法

权利要求书

1.一种信息处理装置，包括：

估计单元，该估计单元将通过将光照射到测量对象的测量物而获得的光强度分布表述为通过将光照射到基准测量物而获得的光强度分布的线性组合，将从每个所述基准测量物获得的光强度分布建模为遵循预定的概率分布，并且根据从所述测量对象的测量物获得的光强度分布估计所述线性组合的组合系数，其中所述测量对象的测量物在该测量物的表面和/或内部具有对光的响应特性相互不同的多个物质，并且每个所述基准测量物具有单个物质。

2.根据权利要求1所述的信息处理装置，

其中，所述估计单元判定所述组合系数和基于所述组合系数从所述测量对象的测量物获得的光强度分布的估计值是否收敛，

所述信息处理装置还包括参数设定控制单元，当所述估计单元判定所述估计值不收敛时，该参数设定控制单元利用所述估计值更新规定所述预定的概率分布的参数，并且

所述估计单元利用更新后的规定所述预定的概率分布的参数来再次估计所述组合系数和规定所述预定的概率分布的参数。

3.根据权利要求2所述的信息处理装置，

其中，所述估计单元将对通过将光照射到所述测量对象的测量物而获得的光强度分布有影响并且是从所述基准测量物获得的光成分以外的成分建模为遵循不同的预定概率分布并且根据从所述测量对象的测量物获得的光强度分布估计所述线性组合的组合系数，并且

当所述参数设定控制单元更新规定所述预定的概率分布的参数时，所述参数设定控制单元利用所述估计值更新规定所述不同的预定概率分布的参数。

4.根据权利要求2所述的信息处理装置，

其中，所述估计单元使用从所述基准测量物预先获得的光强度分布作为在基于所述预定的概率分布估计从所述基准测量物获得的光强度分布时使用的先验知识。

5.根据权利要求2所述的信息处理装置，

其中，即使当测量多个所述测量对象的测量物的光强度分布时，所述参数设定控制单元也共通地使用利用由所述估计单元计算出的估计值来更新的并且规定所述预定的概率分布的参数。

6.根据权利要求2所述的信息处理装置，

其中，所述测量对象的测量物是利用多个荧光色素多重染色的微粒子，并且

所述物质是要用于对所述微粒子染色的荧光色素。

7.一种信息处理方法，包括：

将通过将光照射到测量对象的测量物而获得的光强度分布表述为通过将光照射到基准测量物而获得的光强度分布的线性组合，将从每个所述基准测量物获得的光强度分布建模为遵循预定的概率分布，并且根据从所述测量对象的测量物获得的光强度分布估计所述线性组合的组合系数，其中所述测量对象的测量物在该测量物的表面和/或内部具有对光的响应特性相互不同的多个物质，并且每个所述基准测量物具有单个物质。

8.一种程序，用于使得计算机执行以下功能：

将通过将光照射到测量对象的测量物而获得的光强度分布表述为通过将光照射到基准测量物而获得的光强度分布的线性组合，将从每个所述基准测量物获得的光强度分布建模为遵循预定的概率分布，并且根据从所述测量对象的测量物获得的光强度分布估计所述线性组合的组合系数，其中所述测量对象的测量物在该测量物的表面和/或内部具有对光的响应特性相互不同的多个物质，并且每个所述基准测量物具有单个物质。

9.一种校正荧光光谱的强度的方法，包括：

通过将具有预定波长的光照射到用多个荧光色素多重染色的微粒子来测量微粒子的荧光光谱；以及

基于与单个荧光色素的荧光特性有关的信息来校正测量到的微粒子的荧光光谱的荧光强度，

其中，为了校正所述荧光强度，

将所述微粒子的荧光光谱作为荧光色素的荧光光谱与预定的加权系数的乘积的线性和来对待，并且基于与单个荧光色素的荧光特性有关的信息来设定指示与荧光色素的荧光光谱相对应的强度分布的参数，

基于所述微粒子的荧光光谱和与荧光色素的荧光光谱相对应的强度分布来估计与所述微粒子的荧光光谱相对应的可能加权系数和指示所述强度分布的参数，以及

将所估计的加权系数视为源自每个荧光色素的荧光强度。

10.根据权利要求9所述的校正荧光光谱的强度的方法，还包括：

在测量所述微粒子的荧光光谱之前，将所述多个荧光色素分类成荧光峰波长不重合的多个群组；

用属于相应群组的荧光色素对所述微粒子进行单染色；

按每个群组调整混合了单染色的微粒子的混合样本；以及

利用经调整的混合样本来测量混合样本的荧光光谱；

其中，为了校正荧光强度，利用每个混合样本的荧光光谱来设定指示与荧光色素的荧光光谱相对应的强度分布的参数。