[发明专利]一种金属粉末电阻率的测试装置及测试方法无效

专利信息
申请号: 201210258756.7 申请日: 2012-07-24
公开(公告)号: CN102854385A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 宋曰海;王建斌;陈田安;解海华 申请(专利权)人: 烟台德邦科技有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 代理人: 杨立
地址: 264006 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 金属粉末 电阻率 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种金属粉末电阻率测试装置,其特征在于,包括金属粉末压实塞(3)、绝缘密封圈(2)、接触电极(4)、用于承装金属粉末的圆柱形壳体(1)、电阻测试装置(5),所述金属粉末压实塞(3)为两个,分别与所述圆柱形壳体(1)的两端连接,所述两个金属粉末压实塞(3)可塞入所述圆柱形壳体(1)内部的一端均连接一个绝缘密封圈(2);所述接触电极(4)为两个,均分别穿过所述金属粉末压实塞(3)及所述绝缘密封圈(2),连接所述圆柱形壳体(1)的内部和外部;所述圆柱形壳体(1)的内筒与所述金属粉末压实塞(3)可塞入所述圆柱形壳体(1)内部的一端及所述绝缘密封圈(2)相适配,所述圆柱形壳体(1)至少一端与所述金属粉末压实塞(3)可拆卸连接;所述电阻测试装置(5)的两端分别与位于所述圆柱形壳体(1)外部的两个所述接触电极(4)的一端相连。

2.根据权利要求1所述一种金属粉末电阻率测试装置,其特征在于,所述金属粉末压实塞(3)可塞入所述圆柱形壳体(1)内部的一端或/和所述绝缘密封圈(2)上设置有外螺纹;所述圆柱形壳体(1)的两端内壳面上设置有内螺纹。

3.根据权利要求1所述一种金属粉末电阻率测试装置,其特征在于,所述金属粉末压实塞(3)可塞入所述圆柱形壳体(1)内部一端的部分的直径略小于所述金属粉末压实塞(3)的另一端的直径。

4.根据权利要求1或2或3所述一种金属粉末电阻率测试装置,其特征在于,所述接触电极(4)为铜丝、银丝或铜片、银片制成。

5.根据权利要求1或2或3所述一种金属粉末电阻率测试装置,其特征在于,所述圆柱形壳体(1)的内筒直径为0.5~0.7厘米,内筒高度为3~7厘米。

6.根据权利要求1或2或3所述一种金属粉末电阻率测试装置,其特 征在于,所述电阻测试装置(5)为电子万用表或微欧仪。

7.一种金属粉末电阻率的测试方法,其特征在于,采用权利要求1至6任一项所述金属粉末电阻率测试装置,包括以下步骤:

1)金属粉末的填充:所述圆柱形壳体(1)一端密封,将所测金属粉末样品从所述圆柱形壳体(1)的另一端填入所述圆柱形壳体(1)内,压实;

2)装置的密封:将金属粉末压实塞(3)可塞入所述圆柱形壳体(1)内部的一端旋入所述圆柱形壳体(1)内,至金属粉末压实塞(3)另一端边缘接触到所述圆柱形壳体(1)的端面;

3)电阻的测量:将电阻测试装置(5)的两端分别与接触电极(4)的接触,连接圆柱形壳体(1)内的金属粉末,调节电阻测试装置(5),记录电阻值。

8.根据权利要求7所述的一种金属粉末电阻率的测试方法,其特征在于,步骤1)所述金属粉末高度略大于所述圆柱形壳体(1)高度。 

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