[发明专利]一种有源天线系统射频指标的测试方法和装置

权利要求书

1.一种有源天线系统射频指标的测试方法，其特征在于，将被测有源天线系统置于测试罩内进行射频指标的测试，其中所述测试罩包括天线阵列部分与无源网络部分，所述天线阵列部分与所述被测有源天线系统的天馈部分相同；所述方法包括：

测试罩单体校准：校准所述测试罩自身所产生的差损和相位偏移量；

近场耦合校准：用两个经过所述测试罩单体校准的测试罩，对所述测试罩的近场耦合测试环境进行校准；

射频指标测试：将所述被测有源天线系统置于校准后的所述测试罩内并与其构成近场耦合方式，其测试环境和所述近场耦合校准测试环境相同；使用校准过程得到的校准结果对所述测试环境进行补偿后，通过所述测试罩上的射频测试接口对所述被测有源天线系统进行射频指标测试，得到所述被测有源天线系统射频端口的射频指标。

2.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，

所述测试罩单体校准，进一步包括：

天线阵列部分校准，分别得到各天线阵子增益和天线阵列的合成增益；以及，

无源网络部分校准，得到所述测试罩的单体幅相校准表。

3.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，

所述近场耦合校准，进一步包括：

支路耦合校准，得到近场耦合的支路幅相校准表；

合路耦合校准，得到近场耦合的合路幅相校准表。

4.如权利要求1所述的测试方法，其特征在于，

通过两个经过单体校准后的测试罩来进行所述近场耦合校准，将所述两个测试罩进行固定，使得所述两个测试罩的天线阵列的朝向是正对的，且所述两个测试罩之间的距离在预定距离范围内。

5.如权利要求1、2、3或4之任一项所述的测试方法，其特征在于，

所述无源网络部分进一步包括支路网络、合并网络及多个支路幅相控制器。

6.如权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述射频指标测试，具体包括：

支路射频测试：根据得到的所述支路幅相校准表获得增益补偿的近似值，对所述被测有源天线系统的各支路的增益进行补偿后，进行各项支路射频指标的测试；

合路射频测试：调整所述测试罩的各支路幅相控制器的状态，为所述测试罩赋一组幅相权值，并根据所述幅相权值对所述被测有源天线系统进行权值配置；然后，根据所述合路幅相校准表获得权值补偿的近似值，分别在增益和相位上对配置的所述被测有源天线系统的权值进行补偿后，进行不同幅相权值下的合路射频指标测试。

7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，

所述支路射频测试中，在对所述被测有源天线系统的各支路的增益进行补偿时，是在所述被测有源天线系统的数字域中补偿、或者在所述测试罩的幅相控制器中补偿。

8.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，

所述合路射频测试中，在对配置的所述被测有源天线系统的权值进行补偿时，是在所述被测有源天线系统的数字域中补偿、或者在所述测试罩的幅相控制器中补偿。

9.如权利要求1、2、3或4之任一项所述的测试方法，其特征在于，

所述测试罩内设有安装支架，所述被测有源天线系统安放在所述安装支架上，与所述测试罩构成近场耦合方式。

10.如权利要求1、2、3或4之任一项所述的测试方法，其特征在于，

所述测试罩的罩体内部采用吸波材料。

11.一种有源天线系统射频指标的测试装置，其特征在于，所述测试装置包括天线阵列部分和无源网络部分，其中，所述天线阵列部分与被测有源天线系统的天馈部分相同；所述无源网络部分进一步包括多个支路幅相控制器、支路网络和合并网络，

所述测试装置与被测有源天线系统之间构成近场耦合方式；

所述幅相控制器用于，调节各支路信号的幅度和相位；

所述支路网络用于将信号分别连接到每个支路上，实现支路测试；

所述合并网络用于将各支路信号相连接，实现合路测试。

12.如权利要求11所述的测试装置，其特征在于，

所述支路网络包括：馈电网络和支路连接器。

13.如权利要求11所述的测试装置，其特征在于，

所述合并网络包括：合路器和合路连接器。