[发明专利]具有校准系统的贵金属检测设备

权利要求书

1.一种用于确定待检测物体中的贵金属含量的检测设备，包括：

仪表，其包括：

微处理器，其中存储有查阅表；

指示条，与所述微处理器可操作地连接；

电源，连接至所述微处理器；

检测垫，形成为灌铜，其上有金涂层；以及

电路，将所述微处理器、所述指示条、所述电源和所述检测垫相互连连在一起；

连接至所述仪表的探头，其包括：

外壳；

容器，安装在所述外壳内，并含有电解液；

纤维尖端，被支撑在所述外壳中，并具有连接至所述容器的第一端，用于接收来自该容器的电解液，还具有相对所述外壳暴露的第二端；

电连接器，将所述笔式探头和所述测量装置连接在一起；以及

电化学反应设备，安装在所述容器内，并具有与所述纤维尖端连接的第一部件和与所述电连接器连接的第二部件，所述电化学反应设备在所述纤维尖端与所述检测垫形成电路的时候产生直流电压。

2.如权利要求1所述的检测设备，还包括：

校准系统，与所述微处理器可操作地连接以操作校准程序，该操作校准程序利用了来自已知检测样品的检测读数并将所述检测读数与存储在所述查阅表中的理论检测读数相比较。

3.如权利要求2所述的检测设备，其中所述校准系统包括安装在所述仪表上的开关，以启动所述校准程序。

4.如权利要求3所述的检测设备，其中所述校准程序将来自所述查阅表中的不同的金的开重量的理论检测读数的算法，应用于所述检测读数，形成响应曲线。

5.如权利要求4所述的检测设备，其中所述校准程序利用所述响应曲线来再校准所有的后继读数，直到所述校准系统重新启动。

6.如权利要求5所述的检测设备，其中，所述电子电路包括测量电路，该电路识别出在检测操作期间由于在探头中产生出的直流电压而导致的在两个受到正向偏压的二极管之间的电阻器的相对侧面上的电压差异。

7.如权利要求6所述的检测设备，其中，所述已知的检测样品为14K金。

8.如权利要求7所述的检测设备，其中，所述电源为电池或通过外部端口与所述电子电路连接的外部电源中的一种。

9.如权利要求8所述的检测设备，其中，所述指示条包括发光二极管阵列，所述微处理器根据来自将所述检测垫和所述探头的所述纤维尖端相互连接的物体的检测读数点亮。

10.一种用于贵金属检测设备的校准系统，该检测设备具有将微处理器、检测垫、外部探头和电源相互连接的电子电路，用于检测物体的贵金属含量，所述校准系统包括：

安装在所述检测设备上用于启动校准程序的校准开关；

测量电路，其将所述检测垫和所述探头相互连接以检测在将已知品质的检测样品电连接在所述检测垫和所述探头之间时检测直流电压的产生，从而产生出表示所述直流电压的检测读数；

所述微处理器将所述检测读数与用于所述检测样品的理论读数进行比较，所述理论读数存储在所述微处理器中的查询表内；并且

所述微处理器计算在所述检测读数和所述理论读数之间的差异，并且从将来自所述查询表中的算法向应用于所述检测读数应用算法以针对与所述检测读数对应的不同贵金属百分比产生出重新再校准曲线，将所待检测物体的所有后继读数与所述重新再校准曲线进行比较以确定其贵金属含量。

11.如权利要求10所述的校准系统，其中，所述贵金属检测设备具有打开/关闭开关，每次需要进行所述校准程序时，所述打开/关闭开关从关闭位置移动到打开位置以给所述贵金属检测设备供电时需要进行所述校准程序。

12.如权利要求10所述的校准系统，其中，所述校准程序可以在通过将所述已知的检测样品电连接在所述检测垫和所述探头之间并且按压所述校准开关而给所述贵金属检测设备供电的任意时刻启动。

13.如权利要求10所述的校准系统，其中，在所述检测读数与在查询表中的相应理论读数偏差了预定百分比的情况下，所述微处理器舍弃所述检测读数，并且提供应该更换所述探头的指示。

14.如权利要求10所述的校准系统，其中所述已知品质的检测样品为14K金样品。