[发明专利]成像装置、图像处理方法和程序在审
申请号: | 201210270075.2 | 申请日: | 2012-07-30 |
公开(公告)号: | CN102917183A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 海津俊;城坚诚;光永知生;筱崎裕考 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | H04N5/359 | 分类号: | H04N5/359;H04N9/04 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 宋鹤 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 成像 装置 图像 处理 方法 程序 | ||
1.一种成像装置,包括:
图像传感器,用于输出来自长时间曝光像素的高灵敏度像素信号和来自短时间曝光像素的低灵敏度像素信号;以及
高光溢出校正处理单元,用于接收来自所述图像传感器的输出像素信号并执行对像素信号的高光溢出校正,
其中,所述高光溢出校正处理单元根据来自所述图像传感器的输入像素值与未受高光溢出影响的理想像素值之间的差异或比率执行对来自所述图像传感器的输入像素的像素值校正。
2.根据权利要求1所述的成像装置,其中:
所述高光溢出校正处理单元包括:
高光溢出量估计单元,用于利用从所述图像传感器输入的低灵敏度像素信号来估计与来自作为高光溢出校正对象的关注像素附近的像素的电荷泄漏相当的高光溢出量;以及
计算单元,用于从来自所述图像传感器的输入像素值中减去由所述高光溢出量估计单元估计的高光溢出量。
3.根据权利要求1所述的成像装置,其中:
所述高光溢出校正处理单元包括:
高光溢出量估计单元,用于基于所述图像传感器的像素布置和考虑了所述图像传感器的高灵敏度像素和低灵敏度像素的曝光控制样式的数学模型来计算与来自作为高光溢出校正对象的关注像素附近的像素的电荷泄漏相当的高光溢出量。
4.根据权利要求1所述的成像装置,其中:
所述高光溢出校正处理单元包括:
信号生成单元,用于生成与作为高光溢出校正对象的关注像素的像素位置相对应的每种颜色的高灵敏度像素值和低灵敏度像素值;以及
校正处理单元,用于接收由所述信号生成单元生成的信号并执行对所述关注像素的高光溢出校正。
5.根据权利要求1所述的成像装置,其中:
所述高光溢出校正处理单元通过应用表格来执行对来自所述图像传感器的输入像素的像素值校正,其中在该表格中来自所述图像传感器的输入像素值与未受高光溢出影响的理想像素值相关联。
6.根据权利要求1所述的成像装置,其中:
所述高光溢出校正处理单元通过应用表格来估计来自所述图像传感器的输入像素中包含的高光溢出量,其中在该表格中来自所述图像传感器的输入像素值与该输入像素值和未受高光溢出影响的理想像素值之间的差异相关联。
7.根据权利要求1所述的成像装置,其中:
所述高光溢出校正处理单元包括:
高光溢出量估计单元,用于利用从所述图像传感器输入的低灵敏度像素信号来估计与来自作为高光溢出校正对象的关注像素附近的像素的电荷泄漏相当的高光溢出量;
乘法单元,用于将由所述高光溢出量估计单元估计的高光溢出量乘以预定的衰减参数以计算衰减高光溢出量;以及
计算单元,用于从来自所述图像传感器的输入像素值中减去由所述乘法单元计算出的衰减高光溢出量。
8.根据权利要求1所述的成像装置,其中:
所述高光溢出校正处理单元利用从所述图像传感器输入的低灵敏度像素信号来估计与来自作为高光溢出校正对象的关注像素附近的像素的电荷泄漏相当的高光溢出量,并且利用通过减去基于该估计结果的高光溢出量而获得的低灵敏度像素信号来再次执行对高光溢出量的估计。
9.根据权利要求1所述的成像装置,其中:
所述高光溢出校正处理单元包括用于判定作为高光溢出校正对象的关注像素是否是运动区域的运动检测单元,并且根据所述运动检测单元的检测信息改变高光溢出校正方式。
10.根据权利要求1所述的成像装置,其中:
所述高光溢出校正处理单元包括用于判定作为高光溢出校正对象的关注像素是否是边缘区域的边缘检测单元,并且根据所述边缘检测单元的检测信息改变高光溢出校正方式。
11.根据权利要求1所述的成像装置,其中:
所述高光溢出校正处理单元包括过校正对策单元,用于在作为高光溢出校正对象的关注像素是运动区域或边缘区域时减小与该关注像素相对应的估计高光溢出量。
12.根据权利要求1所述的成像装置,其中:
所述高光溢出校正处理单元判定输入像素值是否饱和并且在输入像素值是饱和值时不执行高光溢出校正。
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