[发明专利]放射线图像检测装置及其制造方法

说明书

相关申请的交叉参考

本申请要求2011年8月30日提交的日本专利申请2011-188048号的权益，通过参考将其完整内容并入本文中。

技术领域

本发明涉及一种放射线图像检测装置。

背景技术

近年来，已经将利用平板检测器(FPD)来检测放射线图像而产生数字图像数据的放射线图像检测装置付诸实际使用。放射线图像检测装置已经快速分布开来，因为与由光激励荧光体(积聚荧光体)构造的成像板相比，能够瞬间确认图像。可获得各种放射线图像检测装置，其中已知的一种是间接转换型。

间接转换型放射线图像检测装置包括当暴露在放射线下时用于产生荧光的闪烁体(scintillator)和用于检测所述闪烁体的荧光的像素阵列。将所述闪烁体和所述像素阵列分别布置在例如单独的基底上并通过胶粘剂层而将其相互粘合。通过所述闪烁体将所述放射线转换成光并通过像素阵列将所述闪烁体的荧光转换成电信号，结果，产生数字图像数据(参见例如，与US 2011/006213A1相对应的JP-A-2011-017683；以及JP-A-2011-033562)。

所述闪烁体典型地使用碱性卤化物荧光体如碘化铈(CsI)和碘化钠(NaI)通过气相沉积法形成并由通过将荧光体的晶体生长为柱形而形成的柱状晶体群构成。通过气相沉积法形成的荧光体的柱状晶体不含诸如粘合剂的杂质，且还通过光导效应抑制了荧光的散射，所述光导效应对在晶体生长方向上在柱状晶体中产生的荧光进行引导。因此，能够提高放射线图像检测装置的灵敏度和图像的锐度。

其中闪烁体和像素阵列在不使用胶粘剂层的条件下相互紧密接触的放射线图像检测装置也已经是已知的(参见例如JP-A-2010-261720)。在JP-A-2010-261720中所公开的放射线图像检测装置中，用于支撑闪烁体的基底是柔性的，放置闪烁体和像素阵列并还在用于支撑闪烁体的基底和用于支撑像素阵列的基底之间布置隔离空间。在对隔离空间减压时，用于支撑闪烁体的基底发生翘曲，并通过像素阵列对闪烁体进行压制。因此，降低了由胶粘剂层的厚度的不均匀性造成的图像品质的不均匀性。

发明内容

在由柱状晶体群形成的闪烁体中，柱状晶体的长度可能局部发生变化。在此情况中，在JP-A-2010-261720中所述的放射线图像检测装置中，仅通过用于支撑闪烁体的基底的翘曲不能吸收柱状晶体长度的局部变化，且可能在闪烁体与像素阵列之间局部产生间隙。所述间隙会造成由闪烁体产生的荧光的漫射，这会局部劣化图像的锐度。

考虑到上述问题而完成了本发明，本发明的目的是提供具有优异图像品质均匀性的放射线图像检测装置。

根据本发明的一个方面，提供一种放射线图像检测装置，其包括：放射线图像转换面板，所述放射线图像转换面板包括闪烁体和支撑所述闪烁体的基底，所述闪烁体包含在暴露于放射线时产生荧光的荧光体；传感器面板，所述传感器面板包括像素阵列和支撑所述像素阵列的基底，所述像素阵列以与所述闪烁体紧密接触的方式布置并检测从所述闪烁体产生的荧光；以及密封剂，所述密封剂布置在所述放射线图像转换面板的基底与所述传感器面板的基底之间并包围所述闪烁体和所述像素阵列以在所述密封剂内侧形成隔离空间。所述闪烁体包括柱状部，所述柱状部包括通过以柱状形状生长所述荧光体的晶体而形成的柱状晶体群。以与像素阵列紧密接触而不粘合到所述像素阵列上的方式布置由所述柱状晶体的一组尖端构造的表面。所述放射线图像转换面板的基底和所述传感器面板的基底两者都是柔性的。所述隔离空间被减压。

根据本发明的另一个方面，将闪烁体和像素阵列放入由用于支撑所述闪烁体的第一基底、用于支撑所述像素阵列和密封剂形成的空间中，并对所述空间进行减压，使得所述闪烁体与像素阵列紧密接触而不粘合到像素阵列上。通过将所述第一基底和所述第二基底两者都形成为柔性的，所述闪烁体和所述像素阵列可以以其完整形式相互紧密接触而不存在任何间隙。因此，能够提高图像品质的均匀性。

由于闪烁体与像素阵列不相互粘合，所以放射线图像转换面板和传感器面板可容易地相互分离。因此，当放射线图像转换面板和传感器面板中的一个发生损坏时，能够仅替换损坏的面板以将所述面板循环作为放射线图像检测装置重复利用。

附图说明

图1是示意性显示根据本发明示例性实施方案的放射线图像检测装置的构造的图。

图2是示意性显示图1的放射线图像检测装置的传感器面板的构造的图。

图3是示意性显示图1的放射线图像检测装置的传感器面板的构造的图。