[发明专利]用于高效率参数修改的系统和方法无效

专利信息
申请号: 201210273655.7 申请日: 2012-08-02
公开(公告)号: CN103034555A 公开(公告)日: 2013-04-10
发明(设计)人: 夏海涛;杨少华;K·M·哈尔;M·A·兰德瑞斯 申请(专利权)人: LSI公司
主分类号: G06F11/08 分类号: G06F11/08
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 刘倜
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 高效率 参数 修改 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及用于系统特征化的系统和方法,尤其涉及用于调谐数据处理系统的系统和方法。

背景技术

各种存储系统包括实现有一个或多个可修改变量的数据处理电路,其可以被调谐以改善处理性能。在一些情况下,向数据处理电路提供已知的数据模式(data pattern),并在改变所述可修改变量中的一个或多个的同时监视数据处理电路的错误率。继续这种处理过程,直到识别出对于所述可修改变量的可接受的值。这样的方法利用用于所述已知模式的存储区,从而减少了可用存储区,并且获得有意义的错误率可能要花费相当多的时间,这增加了制造存储系统的成本。

因此,至少出于上述原因,现有技术中需要用于数据处理的改进的系统和方法。

发明内容

本发明涉及用于系统特征化的系统和方法,尤其涉及用于调谐数据处理系统的系统和方法。

本发明的一个或多个实施例提供了数据处理系统,其包括:数据检测器电路;数据解码器电路;可靠性监视电路和参数修改控制电路。数据检测器电路可操作用于向由解码输出引导的第一数据集应用数据检测算法以产生检测输出。数据解码器电路可操作用于向第二数据集应用数据解码算法以产生解码输出。第二数据集是从第一数据集导出的。可靠性监视电路可操作用于计算错误率。可以至少部分地基于从解码输出导出的第三数据集或第一数据集计算错误率。参数修改电路可操作用于:选择用于参数的第一值并存储与所述第一值对应的错误率的第一实例;选择用于所述参数的第二值并存储与所述第二值对应的错误计数的第二实例;以及至少部分地基于错误率的第一实例和错误率的第二实例的比较选择第一值和第二值之一。选择第二值包括:至少部分地基于第一值确定搜索方向;以及使用搜索值和步长计算第二值。在一些情况下,步长是可编程的。可以在若干不同终端装置或系统中实现实施例。例如,可以在存储装置或接收装置中实现实施例。此外,在一些情况下,可以将数据处理系统实现为集成电路的一部分。

在上述实施例的一些实例中,计算错误率包括将第三数据集与已知的数据集进行比较。在一些这样的实例中,第三数据集是硬判决输出的集合。所述数据检测算法可以是,但不限于,最大后验数据检测算法或维特比检测算法。在一些情况下,所述数据解码算法是低密度奇偶校验算法。在特定情况下,所述输出是从解码输出导出的第三数据集。在这种情况下,可靠性监视电路可以包括:比较器电路,可操作用于将所述第三数据集的实例与已知的数据集进行比较;以及计数器电路,可操作用于在所述第三数据集的实例不等于所述已知的数据集的对应实例时增加,以得出错误率。在一些情况下,所述输出是包括软数据的第一数据集。在这种情况下,可靠性监视电路可以包括:比较器电路,操作用于将所述软数据的实例与阈值进行比较;以及计数器电路,可操作用于在所述软数据的实例小于阈值时增加,以得出错误率。在特定情况下,阈值是可编程的。

本发明的一些实施例提供了用于数据处理的方法。所述方法包括:利用数据检测器电路对第一数据集执行数据检测算法以产生检测输出;利用数据解码器电路对从所述第一数据集导出的第二数据集执行数据解码算法以产生解码输出;至少部分地基于从解码输出导出的第三数据集或所述第一数据集之一计算错误率;选择用于参数的第一值并存储与所述第一值对应的错误率的第一实例;选择用于所述参数的第二值并存储与所述第二值对应的错误计数的第二实例,并至少部分地基于所述错误率的第一实例和所述错误率的第二实例的比较选择第一值和第二值之一。选择第二值包括:至少部分地基于第一值确定搜索方向;以及使用搜索值和步长计算第二值。在一些情况下,第三数据集是硬判决输出的集合。在多种情况下,步长是可编程的。

在一些情况下,所述输出是从解码输出导出的第三数据集。在一些这样的情况下,计算错误率包括:将所述第三数据集的实例与已知的数据集进行比较;以及对不等于所述已知的数据集的对应实例的第三数据集的实例的数量进行计数以得出错误率。在其他情况下,所述输出是包括软数据的第一数据集。在一些这样的情况下,计算错误率包括:将所述软数据的实例与阈值进行比较;以及对小于阈值的所述软数据的实例的数量进行计数以得出错误率。在特定情况下,阈值是可编程的。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于LSI公司,未经LSI公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210273655.7/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top