[发明专利]一种腐蚀磷化铟单晶片的腐蚀液及腐蚀方法无效

专利信息
申请号: 201210274330.0 申请日: 2012-08-02
公开(公告)号: CN102796526A 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: 林健;赵权;刘春香;吕菲;杨洪星;于妍;佟丽英 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十六研究所
主分类号: C09K13/04 分类号: C09K13/04;C30B33/10
代理公司: 工业和信息化部电子专利中心 11010 代理人: 梁军
地址: 300220*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 腐蚀 磷化 晶片 方法
【权利要求书】:

1.一种腐蚀磷化铟单晶片的腐蚀液,其特征在于,该腐蚀液的原料包括硫酸、双氧水、水;

以体积百分比计算,所述硫酸、所述双氧水和所述水的比例为(4-6):(1-3):(1-2)。

2.根据权利要求1所述的磷化铟单晶片的腐蚀液,其特征在于,以体积百分比计算,所述硫酸、所述双氧水和所述水的比例为5:2:1.5。

3.磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:

将硫酸、双氧水、水按照硫酸:双氧水:水=(4-6):(1-3):(1-2)的配比配制腐蚀液;

当腐蚀液达到60-75度的腐蚀温度时,将所述磷化铟单晶片放入所述腐蚀液中进行腐蚀,腐蚀时间为2-6分钟;

将所述磷化铟单晶片取出,迅速放入去离子水中清洗。

4.根据权利要求3所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,所述磷化铟单晶片放在夹具上,然后再对所述磷化铟单晶片进行腐蚀。

5.根据权利要求3所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,所述腐蚀液在采用石英材料制成的容器内进行混合。

6.根据权利要求3所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,所述腐蚀温度为65-70度。

7.根据权利要求5所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,所述腐蚀液的配制步骤如下:

将水和双氧水倒入所述容器中;

将硫酸缓慢倒入所述容器中;

将配制好的腐蚀液自然冷却。

8.根据权利要求3所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,将所述磷化铟单晶片取出,迅速放入去离子水中清洗的步骤之后,进一步包括对清洗后的所述磷化铟单晶片进行干燥。

9.根据权利要求4所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,在腐蚀过程中不断的摇动所述夹具。

10.根据权利要求3所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,所述腐蚀时间为3-5分钟。

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