[发明专利]一种腐蚀磷化铟单晶片的腐蚀液及腐蚀方法无效
申请号: | 201210274330.0 | 申请日: | 2012-08-02 |
公开(公告)号: | CN102796526A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 林健;赵权;刘春香;吕菲;杨洪星;于妍;佟丽英 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十六研究所 |
主分类号: | C09K13/04 | 分类号: | C09K13/04;C30B33/10 |
代理公司: | 工业和信息化部电子专利中心 11010 | 代理人: | 梁军 |
地址: | 300220*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 腐蚀 磷化 晶片 方法 | ||
1.一种腐蚀磷化铟单晶片的腐蚀液,其特征在于,该腐蚀液的原料包括硫酸、双氧水、水;
以体积百分比计算,所述硫酸、所述双氧水和所述水的比例为(4-6):(1-3):(1-2)。
2.根据权利要求1所述的磷化铟单晶片的腐蚀液,其特征在于,以体积百分比计算,所述硫酸、所述双氧水和所述水的比例为5:2:1.5。
3.磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:
将硫酸、双氧水、水按照硫酸:双氧水:水=(4-6):(1-3):(1-2)的配比配制腐蚀液;
当腐蚀液达到60-75度的腐蚀温度时,将所述磷化铟单晶片放入所述腐蚀液中进行腐蚀,腐蚀时间为2-6分钟;
将所述磷化铟单晶片取出,迅速放入去离子水中清洗。
4.根据权利要求3所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,所述磷化铟单晶片放在夹具上,然后再对所述磷化铟单晶片进行腐蚀。
5.根据权利要求3所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,所述腐蚀液在采用石英材料制成的容器内进行混合。
6.根据权利要求3所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,所述腐蚀温度为65-70度。
7.根据权利要求5所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,所述腐蚀液的配制步骤如下:
将水和双氧水倒入所述容器中;
将硫酸缓慢倒入所述容器中;
将配制好的腐蚀液自然冷却。
8.根据权利要求3所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,将所述磷化铟单晶片取出,迅速放入去离子水中清洗的步骤之后,进一步包括对清洗后的所述磷化铟单晶片进行干燥。
9.根据权利要求4所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,在腐蚀过程中不断的摇动所述夹具。
10.根据权利要求3所述的磷化铟单晶片的腐蚀方法,其特征在于,所述腐蚀时间为3-5分钟。
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