[发明专利]CAP/DF测试装置

说明书

技术领域

本发明涉及电容生产设备，尤其涉及一种CAP/DF（容量/损耗值）测试装置。

背景技术

在陶瓷电容器的生产过程中，需要首先将导线排布在载体纸带（即牛皮纸带）上，并通过美纹胶带（即高温胶带）进行固定后，再通过传动载体纸带传动导线进行后续的打线、插片、焊锡、涂装、固化、打印、特性测试、外观筛选。其中特性测试包括CAP/DF测试，通常使用CAP/DF测试装置进行CAP/DF测试。

如图1、图2所示，现有的CAP/DF测试装置包括支架、探针座、两支韧性探针、载体纸带导轨和测试电路，所述探针座与载体纸带导轨固定安装；探针座与韧性探针的总成结构如图3、图4所示，两支韧性探针的一端与探针座固定、并分别与测试电路的正极和负极连接，韧性探针另一端为自由端。使用时，载体纸带在载体纸带导轨上移动，韧性探针的自由端压在载体纸带上并向载体纸带的运动方向倾斜，如图5所示，当两支韧性探针的自由端分别压住一个产品的两支引脚时，测试电路即可对产品进行CAP/DF测试。由于不同客户需求的产品的两支引脚的间距不等，因此在对不同批次产品进行CAP/DF测试时，都需要调整两支韧性探针的自由端沿载体纸带移动方向的间距，以满足产品两支引脚的间距需求；现在的调节方法是通过手工掰，由于韧性探针的韧性，调整需要反复进行多次才能达到要求，并且载体纸带的运动速度较快，事先掰好的间距后期极有可能变化，引起误判，还得人工再次检测，作业效率低。

发明内容

发明目的：为了克服现有技术中存在的不足，本发明提供一种CAP/DF测试装置，避免在检测不同批次产品时，通过手工掰两支韧性探针的工作，提供作业效率。

技术方案：为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案为：

CAP/DF测试装置，包括支架、载体纸带导轨、相对载体纸带导轨的高度调节装置、探针座、两支韧性探针和测试电路，所述载体纸带导轨和高度调节装置的固定端与支架固定安装，探针座与高度调节装置的调节端连接安装，两支韧性探针的一端与探针座固定、并分别与测试电路的正极和负极连接，两支韧性探针的另一端为自由端，所述两支韧性探针的自由端压在载体纸带导轨上、并向载体纸带导轨的导向方向倾斜。

上述结构中，增加了高度调节装置，通过调节高度调节装置可以调整韧性探针自由端的弯折量，以适应不同产品的引脚间距要求，避免人工手动掰韧性探针的反复调整和周期检测，有效避免误判，提供工作效率。

优选的，还包括转动调节装置，所述转动调节装置的固定端与高度调节装置的调节端固定安装，所述探针座与转动调节装置的调节端固定安装；在高度调节装置的基础上增加转动调节装置，可以增加两个韧性探针自由端适应产品的范围要求。

优选的，所述高度调节装置为丝杠螺母机构，所述丝杠螺母机构包括丝杠结构和螺母结构，所述丝杠结构与支架固定，螺母结构与探针座固定；丝杠螺母机构是一个较为简便、可靠的结构，其应用也较为普遍。所述螺母结构为与探针座固定安装的独立螺母件，或者为设置在探针座上螺纹孔。

优选的，所述转动调节装置可以包括设置在高度调节装置的调节端的螺纹孔、适配的螺栓和设置在探针座上的螺纹孔，将螺栓依次旋入探针座和高度调节装置的调节端的螺纹孔内，调整探针座和高度调节装置的调节端的相对位置后通过螺栓锁紧即可，结构简单，调节方便。

有益效果：本发明提供的CAP/DF测试装置通过高度调节装置和转动调节装置，可以通过调节探针座相对载体纸带导轨的位置适应不同产品的引脚间距要求，避免人工手动掰韧性探针的反复调整和周期检测，有效避免误判，提供工作效率。

附图说明

图1为现有技术的正视结构示意图；

图2为图1中A-A向剖视图；

图3为探针座与韧性探针总成的正视结构示意图；

图4为探针座与韧性探针总成的俯视结构示意图；

图5为探针压住产品引脚的结构示意图；

图6为本发明的正视结构示意图；

图7为探针座与高度调节装置总成的正视结构示意图；

图8为探针座与高度调节装置总成的俯视结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明作更进一步的说明。