[发明专利]超分辨共聚焦光学显微镜与扫描探针显微镜联用系统无效
| 申请号： | 201210277343.3 | 申请日： | 2012-08-06 |
| 公开（公告）号： | CN102809672A | 公开（公告）日： | 2012-12-05 |
| 发明（设计）人： | 方晓红;袁景和;于建强;张雪洁 | 申请（专利权）人： | 中国科学院化学研究所 |
| 主分类号： | G01Q60/02 | 分类号： | G01Q60/02 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 关畅 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 分辨 聚焦 光学 显微镜 扫描 探针 联用 系统 | ||
1.超分辨共聚焦光学显微镜与扫描探针显微镜联用系统，其特征在于：
激光器a输出的激光经二向色性滤光片a滤光后汇聚至显微物镜，激光器b输出的激光依次经位相板和二向色性滤光片b滤光后入射至所述显微物镜；经所述显微物镜汇聚的激光照射至样品台，得到待测样品的荧光信号又经所述显微物镜汇聚后经收集透镜a收集后入射至光电探测器，所述光电探测器输出的光电信号输入至光学信号采集器；
经收集透镜b收集后的激光入射至SPM探针的悬臂上，所述SPM探针设于所述样品台的上方；经所述SPM探针反射后的光经所述经收集透镜b收集后入射至SPM探测器，所述SPM探测器输出的电信号输入至SPM信号采集器；
所述SPM探针和样品台均与一位移控制器相连接。
2.根据权利要求1所述的联用系统，其特征在于：所述激光器a输出的所述激光器b输出的激光在汇聚至所述显微物镜之前均经一反射镜。
3.根据权利要求1或2所述的联用系统，其特征在于：所述待测样品的荧光信号在入射至所述收集透镜a之前经过一反射镜和一滤波片。
4.根据权利要求1或2所述的联用系统，其特征在于：经所述SPM探针反射后的光经所述经收集透镜b收集后再经一半反半透镜后入射至SPM探测器。
5.根据权利要求1-4中任一所述的联用系统，其特征在于：所述SPM探针可为STM探针、AFM探针、TERS金属探针或离子电导探针。
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