[发明专利]一种确定晶体色散方程的装置和方法

权利要求书

1.一种确定晶体色散方程的装置，其特征在于，该装置包括激光器（1）、光阑（2）、透镜A（3）、待测晶体样品（4）、角度旋转台（5）、滤波片（6）、透镜B（7）和倍频信号探测器（8），在激光器（1）和倍频信号探测器构成的光轴上，从左到右依次排列激光器（1）、光阑（2）、透镜A（3）、角度旋转台（5）、滤波片（6）、透镜B（7）和倍频信号探测器（8），所述的待测晶体样品（4）置于角度旋转台（5）上，所述的激光器（1）发出的光束经过光阑（2）和透镜A（3）入射到待测晶体样品（4）的表面上，调整角度旋转台（5），使待测晶体样品（4）的中心置于透镜A（3）的焦点上，以获得较强的倍频信号，倍频信号输出经滤波片（6）滤掉剩余基频光后经透镜B（7）聚焦在倍频信号探测器（8）上。

2.根据权利要求1所述的一种确定晶体色散方程的装置，其特征在于，所述的激光器（1）为CO2激光器。

3.权利要求1或2所述的一种确定晶体色散方程的方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

步骤一：将待测晶体样品（4）置于角度旋转台（5）上，改变激光器（1）的输出波长使其在待测晶体样品（4）的透光范围内，转动角度旋转台（5），当倍频信号探测器（8）测得的倍频信号强度最大时，即得到待测晶体样品（4）在此基频光波长下的外部相位匹配角；

步骤二：改变激光器（1）的输出波长，重复步骤一，即得到待测晶体样品（4）在不同基频光波长下的外部相位匹配角；

步骤三：根据待测晶体样品的多组色散方程，计算不同色散方程下的基频光波长和外部相位匹配角的对应关系，并与实验数据相对比，计算结果与实验数据差别最小的色散方程即为该待测晶体样品的色散方程。