[发明专利]一种重物冲击试验系统

说明书

技术领域

本发明涉及检测技术领域，特别是涉及一种重物冲击试验系统。

背景技术

在各种环境和条件下，能够安全存储、安全运输和安全使用，是很多产品必须具备的技术性能；为此，不论是生产厂家还是国家的专门检测机构，需要对这类产品进行重物冲击试验，以检测和验证产品的耐受重物冲击的技术性能。在重物冲击试验中，常常将被试验的样品夹持在下方，然后在上方释放冲击砝码，对样品进行重物冲击试验，以观察被试验的样品是否会出现爆炸、燃烧等现象。试验中，冲击砝码的重量、冲击砝码距离被试验样品的高度均有规定；特别是：冲击砝码下坠的初始速度为零，然后在地球的引力作用下不断加速，还有，冲击砝码下坠的过程中，除了受到地球的引力作用外，不应再受到其他任何力的影响。

但是，使用现有技术的重物冲击装置，其冲击砝码下坠的过程中受到其他力的影响。比如，有一种现有技术的重物冲击装置，使用钢丝绳索将冲击砝码提升到规定的高度，然后通过释放绳索实现释放冲击砝码，从而对下面的试验样品进行重物冲击试验，但是，在冲击砝码下坠的过程中，带动着钢丝绳索一同运动，而处于运动状态的钢丝绳索，会与支架等物体产生摩擦运动，而该摩擦运动又对冲击砝码造成干扰，无法实现仅由重力作用下落的要求。

现有技术的重物冲击试验设备和上述的重物冲击情况，普遍存在三个不足：一是冲击砝码下坠的过程中受到其他力的影响（前述使用钢丝绳索的重物冲击装置，在冲击砝码下坠的过程中，钢丝绳索本身、以及钢丝绳索与他物的摩擦均对冲击砝码的下坠运动带来影响）；二是释放前的冲击砝码与被试验样品的高度距离，其尺寸不够精准；三是整个重物冲击试验过程中自动化程度不高。

发明内容

为了解决现有技术重物冲击试验设备存在的冲击砝码下坠过程中受到其他力干扰的问题，本发明提出了以下的技术方案。

1．一种重物冲击试验系统，包括：冲击砝码，砝码夹持装置，用于升降砝码夹持装置的升降装置，基座，控制电路和夹持被试样品的样品夹持机构；所述的升降装置包括：进行升降运动的升降块；

所述的砝码夹持装置包括：支架机构、第一电磁铁、第二电磁铁、第一分离块、第二分离块、第一卡块、第二卡块、第一弹簧组、第二弹簧组和卡块运动机构；每一弹簧组包括两根以上的弹簧；

所述的支架机构与升降块固定连接；

所述的第一电磁铁和第二电磁铁具有如下性质：a.它们均与支架机构固定连接；b.第一电磁铁设置在左，第二电磁铁设置在右，并且该两个电磁铁的输出轴相向设置；

第一分离块的末端与第一电磁铁的输出轴固定连接；第二分离块的末端与第二电磁铁的输出轴固定连接；

所述的卡块运动机构，其与支架机构固定连接；

第一卡块和卡块运动机构为前后滑动连接，第二卡块和卡块运动机构为前后滑动连接；

所述的第一弹簧组，其前侧与卡块运动机构抵连接，其后侧与第一卡块抵连接；所述的第二弹簧组，其后侧与卡块运动机构抵连接，其前侧与第二卡块抵连接；第一卡块的后侧与第二卡块的前侧相抵；两个卡块相抵处，其中央开设夹持冲击砝码的夹持孔，其左部开设第一分离缺口，其右部开设第二分离缺口；第一分离块的首端位于第一分离缺口处，第二分离块的首端位于第二分离缺口处；

所述的冲击砝码具有被夹持结构，所述的被夹持结构是指该结构具有上大下小的台阶形结构，台阶之处的朝下面为圆环平面，台阶之下为圆柱体，台阶之上为圆柱体或者为圆锥体或者为圆锥台体，前述的圆锥体及圆锥台体均为上小下大；

第一电磁铁的接线端和第二电磁铁的接线端均通过导线与控制电路电连接。

2．所述的夹持孔是以下四者中的任意一者：

a.所述的夹持孔是圆孔，即在第一卡块和第二卡块上各开设半个圆形缺口，第一卡块和第二卡块相抵时呈现为一个圆孔；

b.所述的夹持孔是椭圆形孔，即在第一卡块和第二卡块上各开设半个椭圆形缺口，第一卡块和第二卡块相抵时呈现为一个椭圆形孔；

c.所述的夹持孔是菱形孔，即在第一卡块和第二卡块上各开设半个菱形缺口，第一卡块和第二卡块相抵时呈现为一个菱形孔；

d.所述的夹持孔是嘴唇形孔，即在第一卡块和第二卡块上各开设圆弧形缺口，所述的圆弧为圆周轨迹的一部分并且不足半圆，第一卡块和第二卡块相抵时呈现为嘴唇形孔。

3．所述的第一分离缺口和第二分离缺口，所述的第一分离块首端和第二分离块首端，它们是以下两者中的任意一者：

a.所述的分离缺口为凹陷的三角形，所述的分离块首端呈突起的三角形，并且三角形的最突出处被切去；