[发明专利]铜锌锡锗硒薄膜及其制备方法、铜锌锡锗硒薄膜太阳能电池有效
申请号: | 201210282465.1 | 申请日: | 2012-08-09 |
公开(公告)号: | CN102820345A | 公开(公告)日: | 2012-12-12 |
发明(设计)人: | 刘壮;肖旭东;杨春雷;顾光一;罗海林;冯叶;程冠铭 | 申请(专利权)人: | 深圳先进技术研究院;香港中文大学 |
主分类号: | H01L31/032 | 分类号: | H01L31/032;H01L31/18;H01L31/065 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 吴平 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 铜锌锡锗硒 薄膜 及其 制备 方法 太阳能电池 | ||
1.一种铜锌锡锗硒薄膜,其特征在于,包括:
入光层,包括第一入光面及与所述第一入光面相对的第一背光面,所述入光层的材料中锗与锡的摩尔比值沿所述第一入光面到所述第一背光面的方向逐渐降低;
中间层,所述中间层的材料与所述第一背光面处材料中锗与锡的摩尔比值相等;及
背光层,所述入光层、所述中间层及所述背光层依次层叠,所述背光层包括与所述中间层相连的第二入光面及远离所述中间层的第二背光面,所述第一背光面通过所述中间层与所述第二入光面相连接,所述背光层的材料中锗与锡的摩尔比值沿所述第二入光面到所述第二背光面的方向逐渐升高;
其中,所述第二入光面处材料与所述第一背光面处材料中锗与锡的摩尔比值相等,所述第一入光面处材料中锗与锡的摩尔比值低于所述第二背光面处材料中锗与锡的摩尔比值。
2.根据权利要求1所述的铜锌锡锗硒薄膜,其特征在于,所述入光层的厚度为200~500纳米,所述中间层的厚度为500~1000纳米,所述背光层的厚度为1000~1800纳米。
3.根据权利要求1所述的铜锌锡锗硒薄膜,其特征在于,所述入光层的第一入光面处材料中锗与锡的摩尔比为2:3~1∶1,所述中间层材料中锗与锡的摩尔比为1:4,所述第二背光面处材料中锗与锡的摩尔比为3:2~7:3。
4.一种铜锌锡锗硒薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
将衬底加热至450~600℃;
采用蒸镀法或溅射法,分别产生铜蒸汽及锌蒸汽,并通过蒸镀法加热锡源、锗源及硒源,产生锡蒸汽、锗蒸汽及硒蒸汽,将所述铜蒸汽、锌蒸汽、锡蒸汽、锗蒸汽及硒蒸汽同时沉积在所述衬底上,从第二背光面开始生长所述铜锌锡锗硒薄膜,且在生长中的所述铜锌锡锗硒薄膜的薄膜表面呈富铜状态;
调节所述锗源及所述锡源的加热温度,使所述锗蒸汽与所述锡蒸汽的摩尔比值随时间逐渐下降,直至背光层沉积形成完毕;
保持所述锗蒸汽与所述锡蒸汽的摩尔比值不变,直至中间层沉积形成完毕;
停止输入所述铜蒸汽,并调节所述锗源及所述锡源的加热温度,使所述锗蒸汽与所述锡蒸汽的摩尔比值随时间逐渐上升;
当沉积所得薄膜表面材料由富铜状态转变为贫铜状态时,停止输入所述锌蒸汽及锗蒸汽,并停止对所述衬底的加热,形成入光层;
当所述衬底温度下降到420~480℃时,停止输入所述锡蒸汽;及
当所述衬底温度下降到260~350℃时,停止输入所述硒蒸汽,制得铜锌锡锗硒薄膜。
5.根据权利要求4所述的铜锌锡锗硒薄膜的制备方法,其特征在于,所述调节所述锗源及所述锡源的加热温度,使所述锗蒸汽与所述锡蒸汽的摩尔比值随时间逐渐下降的方法为:逐渐降低所述锗源的加热温度和/或逐渐升高所述锡源的加热温度;
所述调节所述锗源及所述锡源的加热温度,使所述锗蒸汽与所述锡蒸汽的摩尔比值随时间逐渐上升的方法为:逐渐升高所述锗源的加热温度和/或逐渐降低所述锡源的加热温度。
6.根据权利要求4所述的铜锌锡锗硒薄膜的制备方法,其特征在于,所述入光层的厚度为200~500纳米,所述中间层的厚度为500~1000纳米,所述背光层的厚度为1000~1800纳米。
7.一种铜锌锡锗硒薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
将衬底加热至450~600℃;
采用蒸镀法或溅射法,分别产生铜蒸汽及锌蒸汽,并通过蒸镀法加热锡源、锗源及硒源,产生锡蒸汽、锗蒸汽及硒蒸汽,将所述铜蒸汽、锌蒸汽、锡蒸汽、锗蒸汽及硒蒸汽同时沉积在所述衬底上,形成第二背光面;
调节所述锗源及所述锡源的加热温度,使所述锗蒸汽与所述锡蒸汽的摩尔比值随时间逐渐下降,直至背光层沉积形成完毕;
保持所述锗蒸汽与所述锡蒸汽的摩尔比值不变,直至中间层沉积形成完毕;
调节所述锗源及所述锡源的加热温度,使锗蒸汽与锡蒸汽的摩尔比值随时间逐渐上升;
沉积所得铜锌锡锗硒薄膜到所需厚度时,停止输入所述铜蒸汽、锌蒸汽及锗蒸汽,并停止对所述衬底的加热,形成入光层;
当所述衬底温度下降到420~480℃时,停止输入所述锡蒸汽;及
当所述衬底温度下降到260~350℃时,停止输入所述硒蒸汽,制得铜锌锡锗硒薄膜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳先进技术研究院;香港中文大学,未经深圳先进技术研究院;香港中文大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210282465.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的