[发明专利]核磁共振波谱仪上缩减相位编码数快速三维梯度匀场方法有效

专利信息
申请号: 201210282508.6 申请日: 2012-08-09
公开(公告)号: CN102768347A 公开(公告)日: 2012-11-07
发明(设计)人: 刘光曹;陈忠;陈志伟 申请(专利权)人: 厦门大学
主分类号: G01R33/38 分类号: G01R33/38
代理公司: 厦门南强之路专利事务所 35200 代理人: 马应森
地址: 361005 *** 国省代码: 福建;35
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 核磁共振 波谱 缩减 相位 编码 快速 三维 梯度 方法
【权利要求书】:

1.核磁共振波谱仪上缩减相位编码数快速三维梯度匀场方法,其特征在于包括以下步骤:

1)制作匀场线圈场图,具体步骤如下:

(1)当三维梯度匀场制作匀场线圈场图流程开始时,通过手工匀场,或者一维梯度匀场的方法配合手工匀场的方法,得到均匀磁场;

(2)使用三维梯度匀场的脉冲序列,同时读入这些脉冲序列的默认参数;

(3)调节参数:依次调节射频脉冲的中心频率对准一维核磁共振波谱的主峰位置、调节射频脉冲产生的翻转角、调节接收机的增益,确保信号强度不溢出;借助一维梯度回波重复激发,调节脉冲激发的重复间隔时间或等待时间,使得一维梯度回波的信号幅度没有下降,也没有震荡信号;

(4)选择相位编码数和匀场线圈:在2×2至8×8相位编码数中,选择一种相位编码数,再根据相位编码数确定三维梯度匀场调节的匀场线圈,三维梯度匀场调节的匀场线圈的X或Y的阶数,必须低于X、Y方向相位编码数;

(5)以当前的基础磁场进行两次成像采样,保存采样数据;依次改变选用的每个匀场线圈的电流,并分别进行两次成像采样,保存采样数据;

(6)所有采样数据进行三维傅里叶变换,获得包含相位信息的一系列图像,图像X、Y中心校正,计算每个匀场线圈图像上有效区域内各点的两次成像相位差再扣除基础磁场的相位差然后进行相位解缠,除以时间差:

相位解缠

得到数据ω(r),即每个匀场线圈的场图;

2)匀场,具体步骤如下:

(1)使用制作匀场线圈场图时相同的脉冲序列;

(2)相位编码数与制作匀场线圈场图时一致,要调节的匀场线圈与制作匀场线圈场图时一致,根据场图的相关性、以往收敛效果、匀场电源功率因素,再扣除几个匀场线圈;

(3)当使用2×2至8×8相位编码数时,调入一组保存的所有匀场线圈电流,再进行匀场,形成一个基础磁场;

(4)调节参数方法与制作场图流程相同;

(5)执行脉冲序列,进行两次成像采样,获得数据;

(6)数据进行三维傅里叶变换,得到包含相位信息的两个三维图像,图像X、Y中心校正,用图像有效区域内各点的相位信息计算出当前磁场不均匀分布的场图,计算各个匀场线圈的电流变化量,使得各个匀场线圈的磁场组合,抵消当前不均匀场磁场的分布;

(7)磁场均匀度无法改善,或是磁场的均匀程度可以接受,即完成匀场流程;否则重复步骤(5)~(7)。

2.如权利要求1所述的核磁共振波谱仪上缩减相位编码数快速三维梯度匀场方法,其特征在于在步骤1)第(2)部分中,所述脉冲序列选自三维梯度回波脉冲序列、倾斜三维梯度回波脉冲序列、脉冲梯度场激发回波脉冲序列中的一种。

3.如权利要求1所述的核磁共振波谱仪上缩减相位编码数快速三维梯度匀场方法,其特征在于在步骤1)第(2)部分中,所述默认参数选自脉冲激励时长、梯度的大小、相位编码时间、采样读取信号时间、信号增益中的至少一种。

4.如权利要求1所述的核磁共振波谱仪上缩减相位编码数快速三维梯度匀场方法,其特征在于在步骤1)第(4)部分中,所述相位编码数为3×3相位编码时,剔除X或Y的阶数在3以上的匀场线圈,即X3、Y3、ZX3、ZY3匀场线圈;所述相位编码数为2×2相位编码时,要剔除X或Y的阶数在2以上的匀场线圈,即X2Y2、ZX2Y2、Z2X2Y2、X3、Y3、ZX3、ZY3匀场线圈。

5.如权利要求1所述的核磁共振波谱仪上缩减相位编码数快速三维梯度匀场方法,其特征在于在步骤2)第(2)部分中,所述匀场线圈为Z方向最高阶的匀场线圈。

6.如权利要求1所述的核磁共振波谱仪上缩减相位编码数快速三维梯度匀场方法,其特征在于在步骤2)第(6)部分中,所述计算的过程中加入正则化修正。

7.如权利要求6所述的核磁共振波谱仪上缩减相位编码数快速三维梯度匀场方法,其特征在于所述正则化修正采用Tikhonov正则化。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于厦门大学,未经厦门大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210282508.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top