[发明专利]LED器件寿命检测方法及检测电路及该检测电路的应用

说明书

技术领域

本发明涉及LED技术领域，具体的说是一种采用电参数测试LED器件寿命的方法及检测电路及该检测电路的应用。

背景技术

LED(Light Emitting Diode)是一种固态半导体器件，可将电能转换为光能。具有耗电量小、聚光效果好、反应速度快、可控性强、能承受高冲击力、使用寿命长、环保等优点。LED正逐步替代传统光源，成为第四代光源。

LED器件的生产与研发，其使用寿命的评估是实际生产过程中一道不可避免的工序。目前，行业内实行的LED寿命测试，以时间-光通量的变化为主要参考指标。即，在特定的环境试验箱中，持续或间隔对LED产品通入老化电流（即LED产品正常工作电流，一般为20mA～1000mA），随着时间推移，LED产品的光通量会逐渐下降，当LED产品的光通量下降到初始值的70%所对应的时间，定义为LED产品的寿命。由于LED产品的理论寿命很长，完整的实时测量在生产中无法应用；因此，行业内也制订了一些加速寿命测试的方案，如北美照明协会针对LED产品的测试方法标准：LM80和TM-21，通过3000～6000小时的LED产品光通量变化来推测LED产品使用寿命。检测时间较长，而到目前为止，所有LED产品寿命的测试方案都是只能以检测光通量或亮度等光学参数做为评价依据。

发明内容

鉴于现有技术的问题与缺陷，本发明的其中一目的在于提供一种LED器件寿命检测方法。

本发明的另一目在于提供一种LED器件寿命检测电路

本发明的还一目在于提供一种LED器件寿命检测电路的应用。

为了达到上述目的，本发明采用了如下的技术方案：

一种LED器件寿命检测方法，包括以下步骤：

a、建立LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势及LED器件在测试电流的电压变化趋势的曲线图，根据该曲线图得出LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势及LED器件在测试电流的电压变化趋势的线性关系；

b、提供一老化电流至被测试LED器件，使被测试LED器件持续点亮老化；当老化时间到，将老化电流切换至测试电流；此时，检测并记录被测试LED器件两端的电压值，完成一次老化-测试周期；然后，将测试电流重新切换至老化电流，在不同的时间点重复上述检测动作；

c、提供多个不同电流值的测试电流重复上述b步骤，对应的检测并记录被测试LED器件两端的电压值；

d、根据检测到的电压值画出被测试LED器件在测试电流的电压变化趋势的曲线图；

e、根据LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势与LED器件在测试电流的电压变化趋势的线性关系推导出被测试LED器件的光通量变化趋势的曲线图，以电压变化趋势与光通量变化趋势最为匹配的一组曲线图为依据，将对应时间点的光通量与被测试LED器件的初始光通量相比，评估出被测试LED器件的寿命。

作为本发明的优选技术方案：所述LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势及LED器件在测试电流的电压变化趋势的线性关系表达为：Φ=k₂ln(t)+b、V=k₁ln(t)+a；其中，k₂=k₁。

作为本发明的优选技术方案：所述测试电流为电流密度≤31A/m²对应的电流值。

一种LED器件寿命检测电路，包括LED器件老化测试电路，所述LED器件老化电流输入端还并联的设有测试电流输入端，该老化电流输入端与该测试电流输入端间设有开关切换。

作为本发明的优选技术方案：所述测试电流输入端输入的测试电流为电流密度≤31A/m²对应的电流值

作为本发明的优选技术方案：所述开关为可自动切换的电子开关。

上述检测电路应用于LED照明灯具，该LED照明灯具的电流输入端并联的设有测试电流输入端，LED照明灯具的电流输入端与该测试电流输入端间设有开关切换。

与现有技术相比，本发明检测周期短，节省人工成本，在检测过程中减少人为因素对老化检测结果的影响，增加LED器件寿命检测的精确度。

附图说明

图1为建立的LED器件在正常工作电流下的光通量变化趋势及LED器件在测试电流的电压变化趋势的曲线图。

图2为本发明实施例中LED样品的测试原理图。