[发明专利]位置检测器件、位置检测方法和成像装置

说明书

技术领域

本技术涉及位置检测器件、位置检测方法和成像装置，更具体地说，涉及能够通过将检测可动透镜的绝对位置的第一检测传感器的操作速度构造成不同于检测可动透镜的相对位置的第二检测传感器的操作速度来以高分辨率和高精度检测可动透镜的位置的位置检测器件、位置检测方法和成像装置。

背景技术

比如照相机和摄像机等各种成像装置构造成使得沿光轴方向移动的比如变焦透镜等可动透镜的位置被检测，并且包括所述可动透镜的透镜组的驱动以高精度得到控制。

可动透镜的示例还包括具有聚焦功能的聚焦透镜。聚焦透镜不但具有将被摄体的图像聚焦到图像传感器上的功能，而且还具有补正像面在变焦透镜移动时的变动的补偿器的功能。

在包括有可拆卸地安装在装置本体上的可换镜头的成像装置中，设置有变焦环以便能够对可换镜头进行手动操作。当变焦环旋转时，变焦透镜沿光轴方向移动以进行倍率变化操作。

如上所述，每个可动透镜在光轴方向上的位置由位置检测器件检测。位置检测器件包括检测可动透镜的绝对位置的第一检测传感器和检测可动透镜的相对位置的第二检测传感器(例如，见日本未审查专利申请2006-258586号公报)。

在日本未审查专利申请2006-258586号公报所公开的成像装置中，将输出线性信号且具有低精度的电位计用作第一检测传感器，并将输出周期性信号且具有高精度的磁致电阻(MR)传感器用作第二检测传感器，以检测响应于变焦环的旋转经由连接机构沿光轴方向移动的变焦透镜的位置。

在使用两个传感器检测可动透镜的位置的位置检测器件中，为了以高分辨率和高精度检测可动透镜的位置，有必要使具有低检测精度的第一检测传感器与具有高检测精度的第二检测传感器的周期性信号匹配。因此，输出周期性信号的第二检测传感器的输出信号的一个周期必然大于输出线性信号的第一检测传感器的检测误差。

因此，在根据现有技术的成像装置的位置检测器件中，第二检测传感器的输出信号的一个周期通过扩大用作第二检测传感器的MR传感器的磁化间距，而设定成大于第一检测传感器的检测误差。

能够通过扩大MR传感器的磁化间距来以高分辨率和高精度检测可动透镜的位置。然而，当MR传感器的磁化间距被扩大时，第二检测传感器的操作范围会相应地增大。于是，存在不能实现小型化或者成本可能增加的问题。

例如，在一些情况下，将具有小线性误差或者小滞后现象的电位计用作具有小检测误差和高精度的第一检测传感器，以便第一检测传感器匹配第二检测传感器的周期性信号。然而，在这些情况中，存在第一检测传感器可能变得昂贵从而成本可能增加的问题。

发明内容

希望提供一种能够以高分辨率和高精度检测可动透镜的位置从而实现小型化并降低制造成本的位置检测器件、位置检测方法和成像装置。

根据本技术的一个实施例，提供了一种位置检测器件，其包括：第一检测传感器，沿预定方向操作，输出连续地增大或者减小的信号，并且检测沿光轴方向移动的可动透镜的绝对位置；和第二检测传感器，沿所述预定方向操作，输出周期性地且连续地变化的信号，并且检测所述可动透镜的相对位置。所述第一检测传感器和第二检测传感器以不同操作速度操作。

因此，在所述位置检测器件中，第一和第二检测传感器以不同速度操作。

在根据本技术的实施例的位置检测器件中，第二检测传感器的输出信号的一个周期可以等于或大于第一检测传感器的检测误差。

由于第二检测传感器的输出信号的一个周期等于或大于第一检测传感器的检测误差，所以第二检测传感器的操作速度慢于第一检测传感器的操作速度。

在根据本技术的实施例的位置检测器件中，可以将第一和第二检测传感器的操作速度彼此不同的范围设定成第一和第二检测传感器的每个操作范围的一部分。

由于第一和第二检测传感器的操作速度彼此不同的范围被设定成第一和第二检测传感器的每个操作范围的一部分，所以能够调节作为与敏感度相应的检测精度的敏感度程度。

在根据本技术的实施例的位置检测器件中，第一和第二检测传感器可以在直线中操作(直线地操作)。

由于第一和第二检测传感器在直线中操作，所以能够简化检测操作。