[发明专利]一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构

说明书

技术领域

本发明专利涉及一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构。

背景技术

一直以来对玻璃钝化工艺二极管裸芯粒测试分选都采用人工抽测分选分类，玻璃钝化工艺二极管裸芯粒尺寸从1.0mmx1.0mm x0.3mm（长小x宽x厚度）至2.8.0mmx2.8mm x0.3mm（长小x宽x厚度）不等，目前玻璃钝化工艺二极管裸芯片生产厂家没法做到对每一粒裸芯粒都进行人工测试。随着二极管市场的激烈竞争，玻璃钝化工艺二极管封装厂家对裸芯粒的良品率质量要求也在不断的提升，对产品的良品率要求也提高哪个裸芯粒生产厂家生产的裸芯粒良品率高，就会占据着市场的主动权以及客户源。伴随着高压二极管裸芯粒市场的竞争激烈，裸芯粒的测试变得尤为重要，玻璃钝化工艺二极管裸芯粒具有体积小、薄和脆等特性，要求在裸芯粒测试时，裸芯片另一侧要与三维托针调节架针尖接触良好，接触应力不宜过大，测试头触点与三维弹片调节架弹片触点接触良好才能实现准确测试，接触不好会造成短路，接触应力过大会造成裸芯粒损伤以及崩粒。

发明内容

鉴于上述现状，本发明的目的是提供一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构，能有效地对裸芯粒实现测试，提高了分选裸芯粒良品率。

为实现上述目的，本发明的技术方案是：一种玻璃钝化工艺二极管裸芯粒分选机测试调节机构,包括托板，及安装在托板上的遮光罩，该遮光罩位于玻璃钝化工艺二极管测试头正下方，在所述托板上还装有三维托针调节架，三维托针调节架针尖与遮光罩中心重合，还包括有三维弹片调节架固定在托板上，使三维弹片调节架与遮光罩对应在同心圆周上，并位于玻璃钝化工艺二极管测试头触点正下方，在所述三维弹片调节架之间设有防护架，该防护架安装在托板上，并位于遮光罩的正上方。测试头吸取裸芯粒，裸芯粒另一侧与三维托针调节架针尖接触，测试头上的触点与三维弹片调节架触点接触，形成闭合回路，三维托针调节架针尖与三维弹片调节架触点分别与测试仪器的两极相连接，完成对测试头上的裸芯粒测试。

在本发明中，所述的三维托针调节架，包括支撑架，在所述支撑架上安装带有X向螺母的传动丝杆，通过传动丝杆与安装在在支撑架上的双燕尾槽滑块连接,在所述双燕尾槽滑块上装有与双燕尾槽滑块呈垂直的带有Y向螺母的传动丝杆，通过传动丝杆与L型双燕尾槽滑块,在所述L型双燕尾槽滑块上安装有带有Z向螺母的传动丝杆，通过传动丝杆与燕尾槽滑块连接,所述燕尾槽滑块连接T型托架，和安装在T型托架上的探针安装架，在所述探针安装架一端连接有托架探针，位于探针安装架上还装有吹风管。

在本发明中, 所述的三维弹片调节架，包括L型安装块，该L型安装块上滑动连接有立柱，通过L型安装块上设置的螺钉紧固在立柱，所述的立柱安装有旋转螺母，在所述L型安装块上端的偏心孔上安装有绝缘连接块，位于绝缘连接块上端具有一弹片，该弹片一端设有绝缘片，位于弹片另一端有一触点。

在本发明中，所述遮光罩为T形中空体。

附图说明

图1为本发明的示意图;

图2为图1三维托针调节架示意图；

图3为图1三维弹片调节架示意图。

具体实施方式

下面将结合附图实施例对本发明作进一步说明。

参考图1，包括托板5，及安装在托板5上的遮光罩3，该遮光罩3位于玻璃钝化工艺二极管测试头A正下方，在所述托板5上还装有三维托针调节架1，三维托针调节架1针尖与遮光罩3中心重合，还包括有三维弹片调节架2固定在托板5上，与遮光罩3对应在同心圆周上，并位于玻璃钝化工艺二极管测试头A触点正下方，在所述三维弹片调节架2之间设有防护架4，该防护架4安装在托板5上，并位于遮光罩3的正上方。利用二极管测试头A吸取裸芯粒，裸芯粒另一侧与三维托针调节架1针尖接触，二极管测试头A上的触点与三维弹片调节架2触点接触，形成闭合回路，三维托针调节架1针尖与三维弹片调节架2触点分别与测试仪器（图中未给出）的两极相连接，完成对测试头上的裸芯粒测试。