[发明专利]射频线测试器

说明书

【技术领域】

本发明涉及一种测试器，特别是涉及一种射频线测试器。

【背景技术】

射频（RF；Radio Frequency）线是电子产品中常用的一种线材，请参阅图1、2，图1为射频线结构示意图、图2为射频线内部结构示意图。如图所示，射频线300通常包括线材本体100以及设于线材本体100两端的端子200，所述线材本体100具有四层结构，由内而外分别为第一导电层101、第一绝缘层102、第二导电层103、第二绝缘层104，而所述端子200又具有与第一导电层101电性连接的第一导电部201以及与所述第二导电层103电性连接的第二导电部202。

对于上述射频线300，目前在测试其是否短路或断路时，通常会采用万用表的两个探针分别插入两个所述端子200的第一导电部201，测试所述第一导电层101是否导通；再将万用表的两个探针分别接触两个所述端子200的第二导电部202，测试所述第二导电层103是否导通；最后再将万用表的两个探针分别插入同一所述端子200的第一导电部201、接触第二导电部202，测试所述第一导电部201、第二导电部202是否短路。

然而，采用上述方式进行射频线300的测试，一方面，其测试过程较为麻烦，需要耗费较多时间；另一方面，测试时插入所述端子200，会对其造成损伤，进而造成端子200扩孔。

有鉴于此，实有必要开发一种射频线测试器，以解决上述问题。

【发明内容】

因此，本发明的目的是提供一种射频线测试器，解决现有测试麻烦费时、以及容易造成端子扩孔的问题。

为了达到上述目的，本发明提供的射频线测试器，所述射频线包括线材本体和设于线材本体两端的端子，所述线材本体具有由内而外的第一导电层、第一绝缘层、第二导电层、第二绝缘层，所述端子具有与所述第一导电层电性连接的第一导电部以及与所述第二导电层电性连接的第二导电部，所述测试器包括：

二测试端子，其分别具有第一测试端和第二测试端，所述第一测试端与所述第一导电部结合，所述第二测试端与所述第二导电部结合；

串接于二所述第一测试端间的第一发光二极管、第一开关以及电源；

串接于二所述第二测试端间的第二发光二极管、第二开关以及电源。

可选的，所述第一测试端与所述第一导电部的结合方式为扣合，所述第二测试端与所述第二导电部的结合方式为扣合。

可选的，所述电源的正极接所述第一发光二极管、第二发光二极管的正极。

可选的，所述电源为电压为3V的直流电源。

可选的，二所述第一测试端间还串接有第一电阻。

可选的，二所述第二测试端间还串接有第二电阻。

相较于现有技术，利用本发明的射频线测试器，由于采用二测试端子与所述射频线的端子结合，从而避免了使用万用表探针插入而引起的扩孔；同时，在测试时，将所述第一开关与所述第二开关逐一闭合，其所对应的第一发光二极管与第二发光二极管，若是有一个不亮，则其对应的线路断开，若闭合其中一个开关，两个发光二极管都亮，则射频线内部短路，可见测试更加简单、省时。

【附图说明】

图1绘示为射频线结构示意图、

图2绘示为射频线内部结构示意图。

图3绘示为本发明的射频线测试器一较佳实施例的电路图。

【具体实施方式】

请共同参阅图1、图2、图3，图3绘示为本发明的射频线测试器一较佳实施例的电路图。

为了达到上述目的，本发明提供的射频线测试器，所述射频线300包括线材本体100和设于线材本体100两端的端子200，所述线材本体100具有由内而外的第一导电层101、第一绝缘层102、第二导电层103、第二绝缘层104，所述端子200具有与所述第一导电层101电性连接的第一导电部201以及与所述第二导电层103电性连接的第二导电部202，于本较佳实施例，所述测试器包括：

二测试端子400，其分别具有第一测试端401和第二测试端402，所述第一测试端401与所述第一导电部201结合，所述第二测试端402与所述第二导电部202结合；

串接于二所述第一测试端401间的第一发光二极管501、第一开关601以及电源700；

串接于二所述第二测试端402间的第二发光二极管502、第二开关以602及电源700。