[发明专利]测试设备及其可移动式测试室

说明书

技术领域

本发明是有关于一种测试设备，且特别是有关于一种用于烧机测试(Burn-in Test)的测试设备及其可移动式测试室。

背景技术

目前的各种电子产品在正式贩售前，为了确保其可靠度，大部分会事先进行烧机测试(Burn-in Test)。在一般室温下所进行的烧机测试，通常需消耗较多的时间才能确保产品的可靠度。举例而言，若欲在一般室温下对变频器的类的电子产品进行烧机测试，必须经过48小时才能够完成，而这样长时间的测试势必会消耗大量的人力及电力，无法满足日益增长的产量需求。但若缩短测试时间，却又无法保障产品的可靠度。

为了解决这样的困境，遂有厂商在烧机测试站装设高温测试室，使得产品在一定的高温下运行(例如摄氏50度)，如此一来，不仅可维持烧机测试的严苛条件，保障产品的可靠度，更可缩短烧机测试的时间。

然而，为了缩短烧机测试的时间，通常会同时对好几台产品进行测试，因此必须对应配置有好几台高温测试室。举例来说，倘若欲对六台变频器进行烧机测试，则必须同时配置有六台高温测试室，无疑地会增加成本上的负担。

此外，若以机柜型变频器为例，传统的操作方式是将变频器的系统柜先置于高温测试室中，再将模块、变压器、及散热风机等装置安装至系统柜中，最后再进行配线、清洁等，操作上十分不便，且亦浪费时间。

另外，如中压变频器(MVD)等高压大电流大功率的驱动器，一般都属于重型装备类产品，其重量动辄以十几吨或几十吨计，因而该类产品的高温烧机测试一直是国内外业界难以克服的困难点。按照一般思维，构建高温烧机测试室后需费尽周章将如此巨大的产品装载进测试室中或由测试室中卸载，非常不方便，因而一般会被认为不切实际而放弃，只能让这些巨大的产品在室温中进行烧机。

发明内容

有鉴于此，本发明的技术方案在于提供一种测试设备及其所采用的可移动式测试室，从而解决了将重型产品装载进测试室中或由测试室中卸载的问题（实际上是让重型产品保持不动，而将活动式的烧机测试室移动，从而实现对重型产品的包覆）。

通过在烧机测试室中对重型产品进行高温烧机测试，不仅可以保证产品品质，而且可以大幅缩短烧机测试所需时间。

本发明的一目的是在于利用一台可移动式测试室来做为多台待测物的烧机测试环境，从而大幅降低先前技术采用多台测试室所需负担的成本。

为了达到上述目的，依据本发明的一实施方式，一种测试设备包含多条轨道、多个测试区域以及一可移动式测试室。这些测试区域是位于这些轨道之间。可移动式测试室包含一通道、至少一加热源以及至少一对滚珠。加热源是用以加热通道。此对滚珠分别可滑动地容置于两条轨道中，以将通道移动至不同的测试区域上方。

依据本发明的另一实施方式，一种可移动式测试室包含一对侧壁、一通道、一对隔热帘、至少一个加热源以及至少一对滚珠。通道是夹设于此对侧壁之间。此对隔热帘是可卷起地罩住通道的相对两端，其中此对隔热帘与此对侧壁共同形成一测试空间。加热源是用以加热测试空间。此对滚珠是分别设置于此对侧壁的底面。

通过上述实施方式，本发明可利用具有滚珠的可移动式测试室在轨道中滑动，故此可移动式测试室可被移动至各个不同的测试区域来做为不同待测物(例如不同的变频器)的烧机测试环境。因此，本发明上述实施方式可仅利用一台测试室来做为多台待测物的烧机测试环境，大幅降低先前技术利用多台测试室所需负担的高额成本。

此外，通过本发明的实施方式，当可移动式测试室正用于某一台待测物时，测试人员可同时组装下一台待测物或是拆卸上一台已测完的产品，故可缩短烧机测试的时间。

以上所述仅是用以阐述本发明所欲解决的问题、解决问题的技术手段、及其产生的功效等等，本发明的具体细节将在下文的实施方式及相关附图中详细介绍。

附图说明

为让本发明的上述和其他目的、特征、优点与实施例能更明显易懂，所附附图的说明如下：

图1绘示依据本发明一实施方式的测试设备的示意图；

图2绘示依据本发明一实施方式的轨道的剖面图；

图3绘示依据本发明一实施方式的可移动式测试室的一操作方式的立体图；

图4绘示图3的可移动式测试室的另一操作方式的立体图；

图5绘示依据本发明一实施方式的滚珠的剖面图。

【主要元件符号说明】

100：可移动式测试室

110：侧壁

112：底面

120：通道

125：测试空间

130：隔热帘