[发明专利]一种提高GaN基LED发光效率的外延方法有效
申请号: | 201210299221.4 | 申请日: | 2012-08-22 |
公开(公告)号: | CN102779737A | 公开(公告)日: | 2012-11-14 |
发明(设计)人: | 孙玉芹;王江波;魏世祯;刘榕 | 申请(专利权)人: | 华灿光电股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;H01L33/00 |
代理公司: | 江西省专利事务所 36100 | 代理人: | 胡里程 |
地址: | 430223 湖北省*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 提高 gan led 发光 效率 外延 方法 | ||
1.一种提高GaN基LED发光效率的外延生长方法,该芯片包括衬底以及依次层叠于衬底上的缓冲层、u-GaN层、n型 GaN、n型电流扩展层、n型空间层、量子阱有源区、p型电子阻挡层、p-GaN、接触层,其特征在于:在n型电流扩展层和n型空间层之间先通入具有表面处理作用的气体进行表面处理,然后再通过生长条件的控制将表面恢复平整,在n型电流扩展层与n型空间层之间形成表面处理层、n型表面恢复层。
2.如权利要求1所述的提高GaN基LED发光效率的外延生长方法,其特征在于:表面处理的时间为10s~20min,处理温度700℃~1100℃。
3.如权利要求1或2所述的提高GaN基LED发光效率的外延生长方法,其特征在于:具有表面处理作用的气体可以是SiH4、H2、CH4、NH3或CP2Mg。
4.如权利要求1或4所述的提高GaN基LED发光效率的外延生长方法,其特征在于:n型表面恢复层;先生长10s~10min的成核层;然后生长约3~500?厚的掺Si的n GaN层。
5.如权利要求1所述的提高GaN基LED发光效率的外延生长方法,其特征在于n型GaN空间层的厚度约1~100nm。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造