[发明专利]一种提高GaN基LED发光效率的外延方法有效

专利信息
申请号: 201210299221.4 申请日: 2012-08-22
公开(公告)号: CN102779737A 公开(公告)日: 2012-11-14
发明(设计)人: 孙玉芹;王江波;魏世祯;刘榕 申请(专利权)人: 华灿光电股份有限公司
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;H01L33/00
代理公司: 江西省专利事务所 36100 代理人: 胡里程
地址: 430223 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 提高 gan led 发光 效率 外延 方法
【权利要求书】:

1.一种提高GaN基LED发光效率的外延生长方法,该芯片包括衬底以及依次层叠于衬底上的缓冲层、u-GaN层、n型 GaN、n型电流扩展层、n型空间层、量子阱有源区、p型电子阻挡层、p-GaN、接触层,其特征在于:在n型电流扩展层和n型空间层之间先通入具有表面处理作用的气体进行表面处理,然后再通过生长条件的控制将表面恢复平整,在n型电流扩展层与n型空间层之间形成表面处理层、n型表面恢复层。

2.如权利要求1所述的提高GaN基LED发光效率的外延生长方法,其特征在于:表面处理的时间为10s~20min,处理温度700℃~1100℃。

3.如权利要求1或2所述的提高GaN基LED发光效率的外延生长方法,其特征在于:具有表面处理作用的气体可以是SiH4、H2、CH4、NH3或CP2Mg。

4.如权利要求1或4所述的提高GaN基LED发光效率的外延生长方法,其特征在于:n型表面恢复层;先生长10s~10min的成核层;然后生长约3~500?厚的掺Si的n GaN层。

5.如权利要求1所述的提高GaN基LED发光效率的外延生长方法,其特征在于n型GaN空间层的厚度约1~100nm。

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